Setup for meV-resolution inelastic X-ray scattering measurements and X-ray diffraction at the Matter in Extreme Conditions endstation at the Linac Coherent Light Source
McBride, E. E. ; White, T. G. ; Descamps, A. ; Fletcher, L. B. ; Appel, K. ; Condamine, F. P. ; Curry, C. B. ; Dallari, F. ; Funk, S. ; Galtier, E. ; Gauthier, M. ; Goede, S. ; Kim, J. B. ; Lee, H. J. ; Ofori-Okai, B. K. ; Oliver, M. ; Rigby, A. ; Schoenwaelder, C. ; Sun, P. ; Tschentscher, Th ; Witte, B. B. L. ; Zastrau, U. ; Gregori, G. ; Nagler, B. ; Hastings, J. ; Glenzer, S. H. ; Monaco, G.
Rev.Sci.Instrum, 2018-10, Vol.89 (10), p.10F104-10F104 [Periódico revisado por pares]United States: American Institute of Physics (AIP)
Texto completo disponível