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Programa SILICIO agrupando e correlacionando dados sobre deposição e caracterização de filmes finos de silício hidrogenado

John Paul Hempel Lima Ely Antonio Tadeu Dirani; Alexandre Mantovani Nardes; Fernando Josepetti Fonseca 1959-; Adnei Melges de Andrade 1943-; Simpósio Internacional de Iniciação Científica da USP (10. 2002 São Carlos); Congresso de Iniciação Científica e Tecnológica em Engenharia (18. 2002 São Carlos)

SIICUSP;CICTE: resumos

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Título:
Programa SILICIO agrupando e correlacionando dados sobre deposição e caracterização de filmes finos de silício hidrogenado
Autor: John Paul Hempel Lima
Ely Antonio Tadeu Dirani; Alexandre Mantovani Nardes; Fernando Josepetti Fonseca 1959-; Adnei Melges de Andrade 1943-; Simpósio Internacional de Iniciação Científica da USP (10. 2002 São Carlos); Congresso de Iniciação Científica e Tecnológica em Engenharia (18. 2002 São Carlos)
Materias: FILMES FINOS
Es parte de: SIICUSP; CICTE: resumos
Editor: São Paulo USP
Fecha de creación: 2002
Formato: f.2310.
Idioma: Portugués

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