Idioma:

Software testing in critical embedded systems a systematic review of adherence to standard DO-178B

Jacson Rodrigues Barbosa Auri Marcelo Rizzo Vincenzi; Márcio Eduardo Delamaro; José Carlos Maldonado; International Conference on Advances in System Testing and Validation Lifecycle - VALID 2011 (3. 2011 Barcelona, Espanha)

Proceedings Santa Clara, CA : IARIA, 2011

Localização: ICMC - Inst. Ciên. Mat. Computação (PROD-2240801 ) e outros locais(Acessar)

Título:
Software testing in critical embedded systems a systematic review of adherence to standard DO-178B
Autor: Jacson Rodrigues Barbosa
Auri Marcelo Rizzo Vincenzi; Márcio Eduardo Delamaro; José Carlos Maldonado; International Conference on Advances in System Testing and Validation Lifecycle - VALID 2011 (3. 2011 Barcelona, Espanha)
Assuntos: SISTEMAS DE INFORMAÇÃO; ENGENHARIA DE SOFTWARE
É parte de: Proceedings Santa Clara, CA : IARIA, 2011
Notas: Disponível em: . Acesso em 25 nov 2011
Editor: Santa Clara, CA IARIA - The International Academy Research and Industry Association
Data de criação/publicação: 2011
Formato: p. 126-130.
Idioma: Inglês

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