skip to main content

Survey on Aspect-Level Sentiment Analysis

Schouten, Kim ; Frasincar, Flavius

IEEE transactions on knowledge and data engineering, 2016-03, Vol.28 (3), p.813-830 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

Texto completo disponível

Citações Citado por

Buscando em bases de dados remotas. Favor aguardar.