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11	Material Type: Artigo		Three-terminal ferroelectric synapse device with concurrent learning function for artificial neural networks Nishitani, Y. ; Kaneko, Y. ; Ueda, M. ; Morie, T. ; Fujii, E. Journal of applied physics, 2012-06, Vol.111 (12) [Periódico revisado por pares] United States Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
12	Material Type: Artigo		Defect-reduction mechanism for improving radiative efficiency in InGaN/GaN light-emitting diodes using InGaN underlayers Armstrong, Andrew M. ; Bryant, Benjamin N. ; Crawford, Mary H. ; Koleske, Daniel D. ; Lee, Stephen R. ; Wierer, Jonathan J. Journal of applied physics, 2015-04, Vol.117 (13) [Periódico revisado por pares] Melville: American Institute of Physics Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
13	Material Type: Artigo		Electric field metrology for SI traceability: Systematic measurement uncertainties in electromagnetically induced transparency in atomic vapor Holloway, Christopher L. ; Simons, Matt T. ; Gordon, Joshua A. ; Dienstfrey, Andrew ; Anderson, David A. ; Raithel, Georg Journal of applied physics, 2017-06, Vol.121 (23) [Periódico revisado por pares] Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
14	Material Type: Artigo		Recombination rate analysis in long minority carrier lifetime mid-wave infrared InGaAs/InAsSb superlattices Carrasco, Rigo A. ; Morath, Christian P. ; Grant, Perry C. ; Ariyawansa, Gamini ; Stephenson, Chad A. ; Kadlec, Clark N. ; Hawkins, Samuel D. ; Klem, John F. ; Shaner, Eric A. ; Steenbergen, Elizabeth H. ; Schaefer, Stephen T. ; Johnson, Shane R. ; Webster, Preston T. Journal of applied physics, 2021-05, Vol.129 (18) [Periódico revisado por pares] Melville: American Institute of Physics Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
15	Material Type: Artigo		Diffusion lengths of silicon solar cells from luminescence images Würfel, P. ; Trupke, T. ; Puzzer, T. ; Schäffer, E. ; Warta, W. ; Glunz, S. W. Journal of applied physics, 2007-06, Vol.101 (12), p.123110-123110-10 [Periódico revisado por pares] United States: American Institute of Physics Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
16	Material Type: Artigo		A review and analysis of microwave absorption in polymer composites filled with carbonaceous particles Qin, F. ; Brosseau, C. Journal of applied physics, 2012-03, Vol.111 (6), p.061301-061301-24 [Periódico revisado por pares] American Institute of Physics Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
17	Material Type: Artigo		Effect of valence electron concentration on stability of fcc or bcc phase in high entropy alloys Guo, Sheng ; Ng, Chun ; Lu, Jian ; Liu, C. T. Journal of applied physics, 2011-05, Vol.109 (10), p.103505-103505-5 [Periódico revisado por pares] American Institute of Physics Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
18	Material Type: Artigo		Pressure calibration of diamond anvil Raman gauge to 310 GPa Akahama, Yuichi ; Kawamura, Haruki Journal of applied physics, 2006-08, Vol.100 (4), p.043516-043516-4 [Periódico revisado por pares] United States: American Institute of Physics Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
19	Material Type: Artigo		3D nanoprinting via focused electron beams Winkler, R. ; Fowlkes, J. D. ; Rack, P. D. ; Plank, H. Journal of applied physics, 2019-06, Vol.125 (21) [Periódico revisado por pares] Melville: American Institute of Physics Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
20	Material Type: Artigo		Inverse geometry for grating-based x-ray phase-contrast imaging Donath, Tilman ; Chabior, Michael ; Pfeiffer, Franz ; Bunk, Oliver ; Reznikova, Elena ; Mohr, Juergen ; Hempel, Eckhard ; Popescu, Stefan ; Hoheisel, Martin ; Schuster, Manfred ; Baumann, Joachim ; David, Christian Journal of applied physics, 2009-09, Vol.106 (5), p.054703-054703-7 [Periódico revisado por pares] United States: American Institute of Physics Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por

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