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0.00035 mm2 on-chip leakage sensing unit for various devices in 10 nm FinFET process
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0.00035 mm2 on-chip leakage sensing unit for various devices in 10 nm FinFET process

Oh, G.-G ; Lee, Y.-W ; Lee, B

Electronics letters, 2018-02, Vol.54 (4), p.213-215 [Periódico revisado por pares]

The Institution of Engineering and Technology

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2
249 construtores de cidades; 249 town builders; 249 constructores de ciudades
249 construtores de cidades; 249 town builders; 249 constructores de ciudades
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249 construtores de cidades; 249 town builders; 249 constructores de ciudades

Ficher, Sylvia

Risco Revista de Pesquisa em Arquitetura e Urbanismo (Online); Bd. 14 Nr. 2 (2016); 38-44

Universidade de São Paulo. Instituto de Arquitetura e Urbanismo 2016-12-23

Acesso online

3
4th industrial revolution in Brazil architecture, engineering and civil construction
4th industrial revolution in Brazil architecture, engineering and civil construction
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4th industrial revolution in Brazil architecture, engineering and civil construction

Elza Luli Miyasaka Márcio Minto Fabricio; Ingrid Paoletti

Revista Arq.Urb. São Paulo : Universidade São Judas Tadeu v. 25, p. 77-90, maio-ago, 2019

São Paulo 2019

Acesso online. A biblioteca também possui exemplares impressos.

4
6º Seminário Regional DOCOMOMO São Paulo
6º Seminário Regional DOCOMOMO São Paulo
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6º Seminário Regional DOCOMOMO São Paulo

Buzzar, Miguel Antônio; Ramos, Fernando Guillermo Vázquez; Fujioka, Paulo Yassuhide

Risco Revista de Pesquisa em Arquitetura e Urbanismo (Online); Bd. 16 Nr. 3 (2018); 4-7

Universidade de São Paulo. Instituto de Arquitetura e Urbanismo 2018-12-17

Acesso online

5
A 0.001-mm2 112.32-μW All-Digital PLL with Dual-Tuned DCO and Dual-Tuned Control Algorithm
A 0.001-mm2 112.32-μW All-Digital PLL with Dual-Tuned DCO and Dual-Tuned Control Algorithm
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A 0.001-mm2 112.32-μW All-Digital PLL with Dual-Tuned DCO and Dual-Tuned Control Algorithm

Zhang, Peiyong ; Su, Yuquan ; Yang, Yiwei

Circuits, systems, and signal processing, 2022-03, Vol.41 (3), p.1563-1576 [Periódico revisado por pares]

New York: Springer US

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6
A 0.0012 mm2 6-bit 700 MS/s 1 mW Calibration-Free Pseudo-Loop-Unrolled SAR ADC in 28 nm CMOS
A 0.0012 mm2 6-bit 700 MS/s 1 mW Calibration-Free Pseudo-Loop-Unrolled SAR ADC in 28 nm CMOS
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A 0.0012 mm2 6-bit 700 MS/s 1 mW Calibration-Free Pseudo-Loop-Unrolled SAR ADC in 28 nm CMOS

An, Eun-Ji ; Oh, Dong-Ryeol

Electronics (Basel), 2022-05, Vol.11 (11), p.1707 [Periódico revisado por pares]

Basel: MDPI AG

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7
A 0.0012 mm[sup.2] 6-bit 700 MS/s 1 mW Calibration-Free Pseudo-Loop-Unrolled SAR ADC in 28 nm CMOS
A 0.0012 mm[sup.2] 6-bit 700 MS/s 1 mW Calibration-Free Pseudo-Loop-Unrolled SAR ADC in 28 nm CMOS
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A 0.0012 mm[sup.2] 6-bit 700 MS/s 1 mW Calibration-Free Pseudo-Loop-Unrolled SAR ADC in 28 nm CMOS

An, Eun-Ji ; Oh, Dong-Ryeol

Electronics (Basel), 2022-06, Vol.11 (11) [Periódico revisado por pares]

MDPI AG

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8
A 0.0016 mm² 0.64 nJ leakage-based CMOS temperature sensor
A 0.0016 mm² 0.64 nJ leakage-based CMOS temperature sensor
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A 0.0016 mm² 0.64 nJ leakage-based CMOS temperature sensor

Ituero, Pablo ; López-Vallejo, Marisa ; López-Barrio, Carlos

Sensors (Basel, Switzerland), 2013-09, Vol.13 (9), p.12648-12662 [Periódico revisado por pares]

Switzerland: MDPI AG

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9
A 0.0018 mm frequency-to-digital-converter-based CMOS smart temperature sensor
A 0.0018 mm frequency-to-digital-converter-based CMOS smart temperature sensor
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A 0.0018 mm frequency-to-digital-converter-based CMOS smart temperature sensor

Lee, Hokyu ; Kim, Kisoo ; Jung, Sangdon ; Song, Janghoon ; Kim, Jong-Kook ; Kim, Chulwoo

Analog integrated circuits and signal processing, 2010-08, Vol.64 (2), p.153-157 [Periódico revisado por pares]

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10
A 0.0018 mm2 frequency-to-digital-converter-based CMOS smart temperature sensor
A 0.0018 mm2 frequency-to-digital-converter-based CMOS smart temperature sensor
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A 0.0018 mm2 frequency-to-digital-converter-based CMOS smart temperature sensor

Lee, Hokyu ; Kim, Kisoo ; Jung, Sangdon ; Song, Janghoon ; Kim, Jong-Kook ; Kim, Chulwoo

Analog integrated circuits and signal processing, 2010-08, Vol.64 (2), p.153-157 [Periódico revisado por pares]

Boston: Springer US

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  2. 1959Até1975  (40.109)
  3. 1976Até1992  (111.496)
  4. 1993Até2010  (936.179)
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