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11	Material Type: Artigo		Graphene-Silicon Schottky Diodes for Photodetection Di Bartolomeo, Antonio ; Luongo, Giuseppe ; Iemmo, Laura ; Urban, Francesca ; Giubileo, Filippo IEEE transactions on nanotechnology, 2018-11, Vol.17 (6), p.1133-1137 [Periódico revisado por pares] New York: IEEE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
12	Material Type: Artigo		Broadband Electroabsorption Modulators Design Based on Epsilon-Near-Zero Indium Tin Oxide Hongwei Zhao ; Yu Wang ; Capretti, Antonio ; Dal Negro, Luca ; Klamkin, Jonathan IEEE journal of selected topics in quantum electronics, 2015-07, Vol.21 (4), p.192-198 [Periódico revisado por pares] New York: IEEE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
13	Material Type: Artigo		Convection-Reaction Equation Based Magnetic Resonance Electrical Properties Tomography (cr-MREPT) Hafalir, Fatih S. ; Oran, Omer F. ; Gurler, Necip ; Ider, Yusuf Z. IEEE transactions on medical imaging, 2014-03, Vol.33 (3), p.777-793 United States: IEEE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
14	Material Type: Artigo		Polymer-Based Hybrid-Integrated Photonic Devices for Silicon On-Chip Modulation and Board-Level Optical Interconnects Zhang, Xingyu ; Hosseini, Amir ; Lin, Xiaohui ; Subbaraman, Harish ; Chen, Ray T. IEEE journal of selected topics in quantum electronics, 2013-11, Vol.19 (6), p.196-210 [Periódico revisado por pares] New York: IEEE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
15	Material Type: Artigo		A Study of Wireless Indoor Positioning Based on Joint TDOA and DOA Estimation Using 2-D Matrix Pencil Algorithms and IEEE 802.11ac Gaber, Abdo ; Omar, Abbas IEEE transactions on wireless communications, 2015-05, Vol.14 (5), p.2440-2454 [Periódico revisado por pares] New York: IEEE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
16	Material Type: Artigo		Heavy-Ion-Induced Degradation in SiC Schottky Diodes: Incident Angle and Energy Deposition Dependence Javanainen, Arto ; Turowski, Marek ; Galloway, Kenneth F. ; Nicklaw, Christopher ; Ferlet-Cavrois, Veronique ; Bosser, Alexandre ; Lauenstein, Jean-Marie ; Muschitiello, Michele ; Pintacuda, Francesco ; Reed, Robert A. ; Schrimpf, Ronald D. ; Weller, Robert A. ; Virtanen, A. IEEE transactions on nuclear science, 2017-08, Vol.64 (8), p.2031-2037 [Periódico revisado por pares] Goddard Space Flight Center: IEEE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
17	Material Type: Artigo		Label Fusion in Atlas-Based Segmentation Using a Selective and Iterative Method for Performance Level Estimation (SIMPLE) Langerak, Thomas Robin ; van der Heide, U A ; Kotte, A N T J ; Viergever, M A ; van Vulpen, M ; Pluim, J P W IEEE transactions on medical imaging, 2010-12, Vol.29 (12), p.2000-2008 United States: IEEE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
18	Material Type: Artigo		Design of a Concurrent Dual-Band 1.8-2.4-GHz GaN-HEMT Doherty Power Amplifier Saad, P. ; Colantonio, P. ; Piazzon, L. ; Giannini, F. ; Andersson, K. ; Fager, C. IEEE transactions on microwave theory and techniques, 2012-06, Vol.60 (6), p.1840-1849 [Periódico revisado por pares] New York: IEEE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
19	Material Type: Artigo		Analysis of Impacts of Expected RF EMF Exposure Restrictions on Peak EIRP of 5G User Equipment at 28 GHz and 39 GHz Bands Xu, Bo ; Zhao, Kun ; Ying, Zhinong ; Sjoberg, Daniel ; He, Wang ; He, Sailing IEEE access, 2019, Vol.7, p.20996-21005 [Periódico revisado por pares] Piscataway: IEEE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
20	Material Type: Artigo		A Quatro-Based 65-nm Flip-Flop Circuit for Soft-Error Resilience Li, Y.-Q ; Wang, H.-B ; Liu, R. ; Chen, L. ; Nofal, I. ; Shi, S.-T ; He, A.-L ; Guo, G. ; Baeg, S. H. ; Wen, S.-J ; Wong, R. ; Chen, M. ; Wu, Q. IEEE transactions on nuclear science, 2017-06, Vol.64 (6), p.1554-1561 [Periódico revisado por pares] New York: IEEE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por

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