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The Use of High Energy X-Ray Generators for TID Testing of Electronic Devices
The Use of High Energy X-Ray Generators for TID Testing of Electronic Devices
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The Use of High Energy X-Ray Generators for TID Testing of Electronic Devices

Girones, Vincent ; Boch, Jerome ; Carapelle, Alain ; Chapon, Arnaud ; Maraine, Tadec ; Labau, Timothee ; Saigne, Frederic ; Alia, Ruben Garcia

IEEE transactions on nuclear science, 2023-01, Vol.70 (8), p.1-1 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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2
Neural Networks for Modeling and Control of Particle Accelerators
Neural Networks for Modeling and Control of Particle Accelerators
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Neural Networks for Modeling and Control of Particle Accelerators

Edelen, A. L. ; Biedron, S. G. ; Chase, B. E. ; Edstrom, D. ; Milton, S. V. ; Stabile, P.

IEEE transactions on nuclear science, 2016-04, Vol.63 (2), p.878-897 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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Combined Bulk and Surface Radiation Damage Effects at Very High Fluences in Silicon Detectors: Measurements and TCAD Simulations
Combined Bulk and Surface Radiation Damage Effects at Very High Fluences in Silicon Detectors: Measurements and TCAD Simulations
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Combined Bulk and Surface Radiation Damage Effects at Very High Fluences in Silicon Detectors: Measurements and TCAD Simulations

Moscatelli, F. ; Passeri, D. ; Morozzi, A. ; Mendicino, Roberto ; Dalla Betta, G.-F ; Bilei, G. M.

IEEE transactions on nuclear science, 2016-10, Vol.63 (5), p.2716-2723 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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4
Heavy-Ion-Induced Degradation in SiC Schottky Diodes: Incident Angle and Energy Deposition Dependence
Heavy-Ion-Induced Degradation in SiC Schottky Diodes: Incident Angle and Energy Deposition Dependence
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Heavy-Ion-Induced Degradation in SiC Schottky Diodes: Incident Angle and Energy Deposition Dependence

Javanainen, Arto ; Turowski, Marek ; Galloway, Kenneth F. ; Nicklaw, Christopher ; Ferlet-Cavrois, Veronique ; Bosser, Alexandre ; Lauenstein, Jean-Marie ; Muschitiello, Michele ; Pintacuda, Francesco ; Reed, Robert A. ; Schrimpf, Ronald D. ; Weller, Robert A. ; Virtanen, A.

IEEE transactions on nuclear science, 2017-08, Vol.64 (8), p.2031-2037 [Periódico revisado por pares]

Goddard Space Flight Center: IEEE

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A Quatro-Based 65-nm Flip-Flop Circuit for Soft-Error Resilience
A Quatro-Based 65-nm Flip-Flop Circuit for Soft-Error Resilience
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A Quatro-Based 65-nm Flip-Flop Circuit for Soft-Error Resilience

Li, Y.-Q ; Wang, H.-B ; Liu, R. ; Chen, L. ; Nofal, I. ; Shi, S.-T ; He, A.-L ; Guo, G. ; Baeg, S. H. ; Wen, S.-J ; Wong, R. ; Chen, M. ; Wu, Q.

IEEE transactions on nuclear science, 2017-06, Vol.64 (6), p.1554-1561 [Periódico revisado por pares]

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6
Threshold and Characteristic LETs in SRAM SEU Cross Section Curves
Threshold and Characteristic LETs in SRAM SEU Cross Section Curves
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Threshold and Characteristic LETs in SRAM SEU Cross Section Curves

Kobayashi, Daisuke ; Uematsu, Masashi ; Hirose, Kazuyuki

IEEE transactions on nuclear science, 2023-04, Vol.70 (4), p.707-713 [Periódico revisado por pares]

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Streaming DAQ Software Prototype at the J-PARC Hadron Experimental Facility
Streaming DAQ Software Prototype at the J-PARC Hadron Experimental Facility
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Streaming DAQ Software Prototype at the J-PARC Hadron Experimental Facility

Takahashi, Tmonori ; Honda, Ryotaro ; Igarashi, Youichi ; Sendai, Hiroshi

IEEE transactions on nuclear science, 2023-06, Vol.70 (6), p.1-1 [Periódico revisado por pares]

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8
Irradiation tests of Silicon Photomultipliers for use in space
Irradiation tests of Silicon Photomultipliers for use in space
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Irradiation tests of Silicon Photomultipliers for use in space

Saito, Y. ; Gunji, S. ; Nakamori, T. ; Mihara, T. ; Yonetoku, D. ; Sawano, T. ; Kurosawa, S. ; Kodaira, S.

IEEE transactions on nuclear science, 2023-02, Vol.70 (2), p.1-1 [Periódico revisado por pares]

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9
Extreme Atmospheric Radiation Environments and Single Event Effects
Extreme Atmospheric Radiation Environments and Single Event Effects
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Extreme Atmospheric Radiation Environments and Single Event Effects

Dyer, Clive ; Hands, Alex ; Ryden, Keith ; Lei, Fan

IEEE transactions on nuclear science, 2018-01, Vol.65 (1), p.432-438 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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10
Low-Noise Analog Channel for the Readout of the Si(Li) Detector of the GAPS Experiment
Low-Noise Analog Channel for the Readout of the Si(Li) Detector of the GAPS Experiment
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Low-Noise Analog Channel for the Readout of the Si(Li) Detector of the GAPS Experiment

Manghisoni, Massimo ; Re, Valerio ; Riceputi, Elisa ; Sonzogni, Mauro ; Ratti, Lodovico ; Fabris, Lorenzo

IEEE transactions on nuclear science, 2021-11, Vol.68 (11), p.2661-2669 [Periódico revisado por pares]

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