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1
Explaining Static Analysis With Rule Graphs
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Explaining Static Analysis With Rule Graphs

Do, Lisa Nguyen Quang ; Bodden, Eric

IEEE transactions on software engineering, 2022-02, Vol.48 (2), p.678-690 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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2
Preventing Defects: The Impact of Requirements Traceability Completeness on Software Quality
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Preventing Defects: The Impact of Requirements Traceability Completeness on Software Quality

Rempel, Patrick ; Mader, Parick

IEEE transactions on software engineering, 2017-08, Vol.43 (8), p.777-797 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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3
Bayesian Data Analysis in Empirical Software Engineering Research
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Bayesian Data Analysis in Empirical Software Engineering Research

Furia, Carlo A. ; Feldt, Robert ; Torkar, Richard

IEEE transactions on software engineering, 2021-09, Vol.47 (9), p.1786-1810 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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4
Hybrid Program Dependence Approximation for Effective Dynamic Impact Prediction
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Hybrid Program Dependence Approximation for Effective Dynamic Impact Prediction

Cai, Haipeng

IEEE transactions on software engineering, 2018-04, Vol.44 (4), p.334-364 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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5
Comparison of Performance of Data Imputation Methods for Numeric Dataset
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Comparison of Performance of Data Imputation Methods for Numeric Dataset

Jadhav, Anil ; Pramod, Dhanya ; Ramanathan, Krishnan

Applied artificial intelligence, 2019-08, Vol.33 (10), p.913-933 [Periódico revisado por pares]

Philadelphia: Taylor & Francis

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6
Mutual Information Analysis: a Comprehensive Study
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Mutual Information Analysis: a Comprehensive Study

Batina, Lejla ; Gierlichs, Benedikt ; Prouff, Emmanuel ; Rivain, Matthieu ; Standaert, François-Xavier ; Veyrat-Charvillon, Nicolas

Journal of cryptology, 2011-04, Vol.24 (2), p.269-291 [Periódico revisado por pares]

New York: Springer-Verlag

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7
In Search of Socio-Technical Congruence: A Large-Scale Longitudinal Study
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In Search of Socio-Technical Congruence: A Large-Scale Longitudinal Study

Mauerer, Wolfgang ; Joblin, Mitchell ; Tamburri, Damian A. ; Paradis, Carlos ; Kazman, Rick ; Apel, Sven

IEEE transactions on software engineering, 2022-08, Vol.48 (8), p.3159-3184 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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8
A Systematic Literature Review and Meta-Analysis on Cross Project Defect Prediction
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A Systematic Literature Review and Meta-Analysis on Cross Project Defect Prediction

Hosseini, Seyedrebvar ; Turhan, Burak ; Gunarathna, Dimuthu

IEEE transactions on software engineering, 2019-02, Vol.45 (2), p.111-147 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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9
The Impact of Correlated Metrics on the Interpretation of Defect Models
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The Impact of Correlated Metrics on the Interpretation of Defect Models

Jiarpakdee, Jirayus ; Tantithamthavorn, Chakkrit ; Hassan, Ahmed E.

IEEE transactions on software engineering, 2021-02, Vol.47 (2), p.320-331 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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10
Corpus-Based Data Acquisition and Topic Analysis of Chinese-Related Public Opinion in Western Media
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Corpus-Based Data Acquisition and Topic Analysis of Chinese-Related Public Opinion in Western Media

Zhao, Xiulian Rajakani, Kalidoss ; Kalidoss Rajakani

Wireless communications and mobile computing, 2022-07, Vol.2022, p.1-10 [Periódico revisado por pares]

Oxford: Hindawi

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