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Device degradation and the circular polarization of the electro-phosphorescent organic light-emitting diode with a ferromagnetic cathode
Device degradation and the circular polarization of the electro-phosphorescent organic light-emitting diode with a ferromagnetic cathode
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Device degradation and the circular polarization of the electro-phosphorescent organic light-emitting diode with a ferromagnetic cathode

Shikoh, E ; Nakagawa, E ; Fujiwara, A

Journal of physics. Conference series, 2010-01, Vol.200 (6), p.062027 [Periódico revisado por pares]

Bristol: IOP Publishing

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Advanced Photoresist for High-Density Groove-Recording Disc
Advanced Photoresist for High-Density Groove-Recording Disc
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Advanced Photoresist for High-Density Groove-Recording Disc

Ohgo, Takashi ; Nakagawa, Eiji ; Kondo, Tetsuya

Japanese Journal of Applied Physics, 2003-02, Vol.42 (Part 1, No. 2B), p.776-777 [Periódico revisado por pares]

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Ion transport in concentrated electrolyte solutions
Ion transport in concentrated electrolyte solutions
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Ion transport in concentrated electrolyte solutions

DODO, T ; NAKAGAWA, T.-A ; NONAKA, E

Japanese Journal of Applied Physics, 1993-03, Vol.32 (3A), p.1236-1241 [Periódico revisado por pares]

Tokyo: Japanese journal of applied physics

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4
Morphology of Polypropylene and Tree Initiation
Morphology of Polypropylene and Tree Initiation
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Morphology of Polypropylene and Tree Initiation

Xu, Jianfei ; Yan, Ping ; Yoshimura, Noboru ; Nakagawa, Zenbe-e

Japanese Journal of Applied Physics, 1998-07, Vol.37 (7R), p.4021 [Periódico revisado por pares]

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5
Characterization of a twin-free orthorhombic YBa2Cu3Ox crystal
Characterization of a twin-free orthorhombic YBa2Cu3Ox crystal
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Characterization of a twin-free orthorhombic YBa2Cu3Ox crystal

KUTAMI, H ; YAMADA, Y ; KOYAMA, S ; JIAN GUO WEN ; EGI, T ; NAKAGAWA, Z.-E ; SHIOHARA, Y

Japanese journal of applied physics, 1997, Vol.36 (2), p.674-675 [Periódico revisado por pares]

Tokyo: Japanese journal of applied physics

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6
Preparation of Bi2Sr2CaCu2Ox superconductors from amorphous films by rapid quenching after rapid melting
Preparation of Bi2Sr2CaCu2Ox superconductors from amorphous films by rapid quenching after rapid melting
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Preparation of Bi2Sr2CaCu2Ox superconductors from amorphous films by rapid quenching after rapid melting

YOSHIMURA, M ; TAE-HYUN SUNG ; NAKAGAWA, Z ; NAKAMURA, T

Japanese journal of applied physics, 1988, Vol.27 (10), p.L1877-L1879 [Periódico revisado por pares]

Tokyo: Japanese journal of applied physics

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7
In situ preparation of superconducting thick films from rapidly quenched Bi-Sr-Ca-Oxide films and surface-oxidized Cu plate
In situ preparation of superconducting thick films from rapidly quenched Bi-Sr-Ca-Oxide films and surface-oxidized Cu plate
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In situ preparation of superconducting thick films from rapidly quenched Bi-Sr-Ca-Oxide films and surface-oxidized Cu plate

TAE-HYUN SUNG ; NAKAGAWA, Z.-E ; YOSHIMOTO, M ; KOINUMA, H ; YOSHIMURA, M

Japanese Journal of Applied Physics, 1990-06, Vol.29 (6), p.L949-L951 [Periódico revisado por pares]

Tokyo: Japanese journal of applied physics

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8
Epitaxial growth of SiGe on Si substrate by printing and firing of Al-Ge mixed paste
Epitaxial growth of SiGe on Si substrate by printing and firing of Al-Ge mixed paste
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Epitaxial growth of SiGe on Si substrate by printing and firing of Al-Ge mixed paste

Fukami, Shogo ; Nakagawa, Yoshihiko ; Hainey, Mel F. ; Gotoh, Kazuhiro ; Kurokawa, Yasuyoshi ; Nakahara, Masahiro ; Dhamrin, Marwan ; Usami, Noritaka

Japanese Journal of Applied Physics, 2019-04, Vol.58 (4), p.45504 [Periódico revisado por pares]

Tokyo: IOP Publishing

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High-Density Read-Only-Memory Disc Mastering Using Direct-Focus Laser Beam Recorder
High-Density Read-Only-Memory Disc Mastering Using Direct-Focus Laser Beam Recorder
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High-Density Read-Only-Memory Disc Mastering Using Direct-Focus Laser Beam Recorder

Kondo, Tetsuya ; Nakagawa, Eiji ; Tsurukubo, Takashi ; Ohgo, Takashi ; Onizawa, Takayuki ; Saito, Toshiya ; Hasegawa, Yuichi ; Kai, Masakatsu

Japanese Journal of Applied Physics, 2004-07, Vol.43 (7S), p.5061 [Periódico revisado por pares]

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Wideband-RL-cancel circuit for the E-J property measurement using the third-harmonic voltage method
Wideband-RL-cancel circuit for the E-J property measurement using the third-harmonic voltage method
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Wideband-RL-cancel circuit for the E-J property measurement using the third-harmonic voltage method

Yamada, H ; Minakuchi, T ; Furuta, T ; Takegami, K ; Nakagawa, S ; Kanayama, K ; Hirachi, K ; Otabe, E S ; Mawatari, Y ; Yamasaki, H

Journal of physics. Conference series, 2008-02, Vol.97 (1), p.012005 [Periódico revisado por pares]

Bristol: IOP Publishing

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