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1
Models for the modern power grid
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Models for the modern power grid

Cardieri, Paulo, 1964- Universidade Estadual de Campinas (Unicamp); Universidade Estadual De Campinas

https://repositorio.unicamp.br/acervo/detalhe/1191204

2014

Acesso online

2
Investigating the CVD Synthesis of Graphene on Ge(100): toward Layer-by-Layer Growth
Investigating the CVD Synthesis of Graphene on Ge(100): toward Layer-by-Layer Growth
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Investigating the CVD Synthesis of Graphene on Ge(100): toward Layer-by-Layer Growth

Scaparro, A. M ; Miseikis, V ; Coletti, C ; Notargiacomo, A ; Pea, M ; De Seta, M ; Di Gaspare, L

ACS applied materials & interfaces, 2016-12, Vol.8 (48), p.33083-33090 [Periódico revisado por pares]

United States: American Chemical Society

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3
Cathepsin-K immunoreactivity distinguishes MiTF TFE family renal translocation carcinomas from other renal carcinomas
Cathepsin-K immunoreactivity distinguishes MiTF TFE family renal translocation carcinomas from other renal carcinomas
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Cathepsin-K immunoreactivity distinguishes MiTF TFE family renal translocation carcinomas from other renal carcinomas

Martignoni, G ; Pea, M ; Gobbo, S ; Brunelli, M ; Bonetti, F ; Segala, D ; Pan, Chin-Chen ; Netto, G ; Doglioni, C ; Hes, O ; Argani, P ; Chilosi, M

Modern pathology, 2009-08, Vol.22 (8), p.1016-1022 [Periódico revisado por pares]

United States: Nature Publishing Group

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4
Strain relaxation in high Ge content SiGe layers deposited on Si
Strain relaxation in high Ge content SiGe layers deposited on Si
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Strain relaxation in high Ge content SiGe layers deposited on Si

Capellini, G ; De Seta, M ; Busby, Y ; Pea, M ; Evangelisti, F ; Nicotra, G ; Spinella, C ; Nardone, M ; Ferrari, C

Journal of applied physics, 2010-03, Vol.107 (6), p.063504-063504-8 [Periódico revisado por pares]

American Institute of Physics

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5
Electrical characterization of FIB processed metal layers for reliable conductive-AFM on ZnO microstructures
Electrical characterization of FIB processed metal layers for reliable conductive-AFM on ZnO microstructures
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Electrical characterization of FIB processed metal layers for reliable conductive-AFM on ZnO microstructures

Pea, M. ; Maiolo, L. ; Giovine, E. ; Rinaldi, A. ; Araneo, R. ; Notargiacomo, A.

Applied surface science, 2016-05, Vol.371, p.83-90 [Periódico revisado por pares]

Elsevier B.V

Texto completo disponível

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6
Nanowire-based field effect transistors for terahertz detection and imaging systems
Nanowire-based field effect transistors for terahertz detection and imaging systems
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Nanowire-based field effect transistors for terahertz detection and imaging systems

Romeo, L ; Coquillat, D ; Pea, M ; Ercolani, D ; Beltram, F ; Sorba, L ; Knap, W ; Tredicucci, A ; Vitiello, M S

Nanotechnology, 2013-05, Vol.24 (21), p.214005-1-8 [Periódico revisado por pares]

England: IOP Publishing

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7
Morphological and spectroscopic analysis of argon- and oxygen-ions treated thin ferritin films
Morphological and spectroscopic analysis of argon- and oxygen-ions treated thin ferritin films
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Morphological and spectroscopic analysis of argon- and oxygen-ions treated thin ferritin films

Di Gaspare, L. ; Pea, M. ; De Seta, M. ; Notargiacomo, A.

Microelectronic engineering, 2015-08, Vol.144, p.19-22 [Periódico revisado por pares]

Elsevier B.V

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8
Ion and plasma based treatments for enhanced chemical speciation of metals in ferritin
Ion and plasma based treatments for enhanced chemical speciation of metals in ferritin
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Ion and plasma based treatments for enhanced chemical speciation of metals in ferritin

Di Gaspare, L. ; Ciasca, G. ; Pea, M. ; Notargiacomo, A.

Microelectronic engineering, 2014-07, Vol.124, p.86-89 [Periódico revisado por pares]

Elsevier B.V

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9
Suppression of lateral growth in InAs/InAsSb heterostructured nanowires
Suppression of lateral growth in InAs/InAsSb heterostructured nanowires
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Suppression of lateral growth in InAs/InAsSb heterostructured nanowires

Pea, M. ; Ercolani, D. ; Li, A. ; Gemmi, M. ; Rossi, F. ; Beltram, F. ; Sorba, L.

Journal of crystal growth, 2013-03, Vol.366, p.8-14 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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10
ZnO nanowires strips growth: Template reliability and morphology study
ZnO nanowires strips growth: Template reliability and morphology study
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ZnO nanowires strips growth: Template reliability and morphology study

Pea, M. ; Maiolo, L. ; Pilloton, R. ; Rinaldi, A. ; Araneo, R. ; Giovine, E. ; Orsini, A. ; Notargiacomo, A.

Microelectronic engineering, 2014-06, Vol.121, p.147-152 [Periódico revisado por pares]

Elsevier B.V

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Deste Autor:

  1. Hueb, J
  2. Barbosa, A
  3. Chaud-Netto, J
  4. Oliva, W
  5. Campos, M

Neste Assunto:

  1. Science & Technology
  2. Life Sciences & Biomedicine
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  • Realização: ABCD-USP USP   Logos de Redes Sociais: Freepik

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