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1
Electron Microprobe Analysis and Scanning Electron Microscopy in Geology
Electron Microprobe Analysis and Scanning Electron Microscopy in Geology
Electron Microprobe Analysis and Scanning Electron Microscopy in Geology
Material Type:
Livro 		Adicionar ao Meu Espaço

Electron Microprobe Analysis and Scanning Electron Microscopy in Geology

S. J. B. Reed

Cambridge Cambridge University Press 2005

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2
Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis
Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis
Material Type:
Livro 		Adicionar ao Meu Espaço

Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis

Joseph Newbury, Dale E. Joy, David C. Goldstein Patrick Echlin; David C Joy; Eric Lifshin; Charles E Lyman; J.R Michael; Dale E Newbury; Linda Sawyer; Linda C Sawyer

Springer US 2003

Acesso online. A biblioteca também possui exemplares impressos.

3
Electron beam x-ray microanalysis
Electron beam x-ray microanalysis
Material Type:
Livro 		Adicionar ao Meu Espaço

Electron beam x-ray microanalysis

Kurt F. J. Heinrich

New York Van Nostrand Reinhold Co. c1981

Localização: IF - Instituto de Física    (543.0812 H468e )(Acessar)

4
Caracterização de hidróxidos e óxidos de alumínio comerciais por métodos óptico-eletrônicos.
Caracterização de hidróxidos e óxidos de alumínio comerciais por métodos óptico-eletrônicos.
Material Type:
Tese de Doutorado 		Adicionar ao Meu Espaço

Caracterização de hidróxidos e óxidos de alumínio comerciais por métodos óptico-eletrônicos.

Passaro, Angela Maria Pizzo

Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da USP; Universidade de São Paulo; Instituto de Física 1995-12-18

Acesso online. A biblioteca também possui exemplares impressos.

5
Métodos instrumentais de análise química
Material Type:
Livro 		Adicionar ao Meu Espaço

Métodos instrumentais de análise química

Galen Wood Ewing 1914- Aurora Giora Albanese; Joaquim Teodoro de Souza Campos

São Paulo Edgard Blücher , Editora da Universidade de São Paulo 1972

Localização: CQ - Conjunto das Químicas    (543.08 E95m v.2 e.11 ) e outros locais(Acessar)

6
Avaliação da composição elementar de filmes finos de ligas metálicas por arco catódico filtrado em vácuo utilizando RBS e EDS quantitativo
Avaliação da composição elementar de filmes finos de ligas metálicas por arco catódico filtrado em vácuo utilizando RBS e EDS quantitativo
Material Type:
Dissertação de Mestrado 		Adicionar ao Meu Espaço

Avaliação da composição elementar de filmes finos de ligas metálicas por arco catódico filtrado em vácuo utilizando RBS e EDS quantitativo

Raissa Lima de Oblitas Maria Cecília Barbosa da Silveira Salvadori

2016

Localização: IF - Instituto de Física    (530.417 O12a M )(Acessar)

7
Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis
Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis
Material Type:
Livro 		Adicionar ao Meu Espaço

Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis

Joseph Goldstein 1939-; Dale E Newbury; Patrick Echlin; David C Joy; Charles E Lyman; Eric Lifshin; Linda Sawyer; Joseph R Michael

New York Springer c2007

Localização: CQ - Conjunto das Químicas    (543.08586 S283 2003 e.2 CD-ROM ) e outros locais(Acessar)

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