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An empirical validation of object-oriented class complexity metrics and their ability to predict error-prone classes in highly iterative, or agile, software: a case study
An empirical validation of object-oriented class complexity metrics and their ability to predict error-prone classes in highly iterative, or agile, software: a case study
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An empirical validation of object-oriented class complexity metrics and their ability to predict error-prone classes in highly iterative, or agile, software: a case study

Olague, Hector M. ; Etzkorn, Letha H. ; Messimer, Sherri L. ; Delugach, Harry S.

Journal of software maintenance and evolution, 2008-05, Vol.20 (3), p.171-197 [Periódico revisado por pares]

Chichester, UK: John Wiley & Sons, Ltd

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2
Using conceptual graphs to represent database inteference security analysis
Using conceptual graphs to represent database inteference security analysis
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Using conceptual graphs to represent database inteference security analysis

DELUGACH, H. S ; HINKE, T. H

Journal of computing and information technology, 1994, Vol.2 (4), p.291-307 [Periódico revisado por pares]

Zagreb: University Computing Centre

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3
CHIPPING AWAY AT PRIVACY
CHIPPING AWAY AT PRIVACY
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magazinearticle 		Adicionar ao Meu Espaço

CHIPPING AWAY AT PRIVACY

Delugach, Harry S. ; Funchess, Noel

Scientific American, 2005-09, Vol.293 (3), p.16-16

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4
SEMANTIC METRICS: METRICS BASED ON SEMANTIC ASPECTS OF SOFTWARE
SEMANTIC METRICS: METRICS BASED ON SEMANTIC ASPECTS OF SOFTWARE
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SEMANTIC METRICS: METRICS BASED ON SEMANTIC ASPECTS OF SOFTWARE

Stein, Cara ; Etzkorn, Letha ; Gholston, Sampson ; Farrington, Phillip ; Utley, Dawn ; Cox, Glenn ; Fortune, Julie

Applied artificial intelligence, 2009-01, Vol.23 (1), p.44-77 [Periódico revisado por pares]

Philadelphia: Taylor & Francis Group

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5
COHESION METRIC FOR OBJECT-ORIENTED SYSTEMS BASED ON SEMANTIC CLOSENESS FROM DISAMBIGUITY
COHESION METRIC FOR OBJECT-ORIENTED SYSTEMS BASED ON SEMANTIC CLOSENESS FROM DISAMBIGUITY
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COHESION METRIC FOR OBJECT-ORIENTED SYSTEMS BASED ON SEMANTIC CLOSENESS FROM DISAMBIGUITY

Cox, Glenn W. ; Etzkorn, Letha H. ; Hughes, William E.

Applied artificial intelligence, 2006-06, Vol.20 (5), p.419-436 [Periódico revisado por pares]

Taylor & Francis Group

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6
Conceptual knowledge discovery--a human-centered approach
Conceptual knowledge discovery--a human-centered approach
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Conceptual knowledge discovery--a human-centered approach

Correia, Joachim Hereth ; Stumme, Gerd ; Wille, Rudolf ; Wille, Uta

Applied artificial intelligence, 2003-03, Vol.17 (3), p.281-302 [Periódico revisado por pares]

Taylor & Francis Group

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7
Task-based conceptual graphs as a basis for automating software development
Task-based conceptual graphs as a basis for automating software development
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Task-based conceptual graphs as a basis for automating software development

Lee, Jonathan ; Lai, Lein F. ; Hsu, Kuo-Hsun ; Fanjiang, Yong-Yi

International journal of intelligent systems, 2000-12, Vol.15 (12), p.1177-1207 [Periódico revisado por pares]

New York: John Wiley & Sons, Inc

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8
An extended access control mechanism exploiting data dependencies
An extended access control mechanism exploiting data dependencies
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An extended access control mechanism exploiting data dependencies

Albertini, Davide Alberto ; Carminati, Barbara ; Ferrari, Elena

International journal of information security, 2017-02, Vol.16 (1), p.75-89 [Periódico revisado por pares]

Berlin/Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg

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9
AI-CTO: Knowledge graph for automated and dependable software stack solution
AI-CTO: Knowledge graph for automated and dependable software stack solution
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AI-CTO: Knowledge graph for automated and dependable software stack solution

Xu, Xiaoyun ; Wu, Jingzheng ; Yang, Mutian ; Luo, Tianyue ; Meng, Qianru ; Li, Weiheng ; Wu, Yanjun

Journal of intelligent & fuzzy systems, 2021-01, Vol.40 (1), p.799-812 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: IOS Press BV

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10
A classification and systematic review of product line feature model defects
A classification and systematic review of product line feature model defects
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A classification and systematic review of product line feature model defects

Bhushan, Megha ; Negi, Arun ; Samant, Piyush ; Goel, Shivani ; Kumar, Ajay

Software quality journal, 2020-12, Vol.28 (4), p.1507-1550 [Periódico revisado por pares]

New York: Springer US

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