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Structural, microstructural, optical and electrical properties of (Pb,Ba,Sr)TiO3 films growth on conductive LaNiO3-coated LaAO3(100) and Pt/Ti/SiO2/Si substrates
Structural, microstructural, optical and electrical properties of (Pb,Ba,Sr)TiO3 films growth on conductive LaNiO3-coated LaAO3(100) and Pt/Ti/SiO2/Si substrates
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Structural, microstructural, optical and electrical properties of (Pb,Ba,Sr)TiO3 films growth on conductive LaNiO3-coated LaAO3(100) and Pt/Ti/SiO2/Si substrates

Pontes, D.S.L. ; Capeli, R.A. ; Garzim, M.L. ; Pontes, F.M. ; Chiquito, A.J. ; Longo, E.

Materials letters, 2014-04, Vol.121, p.93-96 [Periódico revisado por pares]

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Nanoscale investigation of ferroelectric and piezoelectric properties in (Pb,Ca)TiO3 thin films grown on LaNiO3/LaAlO3(100) and Pt/Si(111) using piezoresponse force microscopy
Nanoscale investigation of ferroelectric and piezoelectric properties in (Pb,Ca)TiO3 thin films grown on LaNiO3/LaAlO3(100) and Pt/Si(111) using piezoresponse force microscopy
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Nanoscale investigation of ferroelectric and piezoelectric properties in (Pb,Ca)TiO3 thin films grown on LaNiO3/LaAlO3(100) and Pt/Si(111) using piezoresponse force microscopy

Capeli, R.A. ; Pontes, F.M. ; Pontes, D.S.L. ; Chiquito, A.J. ; Bastos, W.B. ; Pereira-da-Silva, Marcelo A. ; Longo, E.

Materials letters, 2017-06, Vol.196, p.64-68 [Periódico revisado por pares]

Elsevier B.V

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3
A model for the interpretation of holographic and Lorentz images of tilted reverse-biased p-n junctions in a finite specimen
A model for the interpretation of holographic and Lorentz images of tilted reverse-biased p-n junctions in a finite specimen
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A model for the interpretation of holographic and Lorentz images of tilted reverse-biased p-n junctions in a finite specimen

Beleggia, M. ; Capelli, R. ; Pozzi, G.

Philosophical magazine. B, Physics of condensed matter. Structural, electronic, optical, and magnetic properties., 2000-05, Vol.80 (5), p.1071-1082

Taylor & Francis Group

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