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Nome da Publicação: Surface And Interface Analysis

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1	Material Type: Artigo		Determination of 3D atomic structure of surfaces and interfaces by photoelectron holography Nihei, Yoshimasa Surface and interface analysis, 2003-01, Vol.35 (1), p.45-50 [Periódico revisado por pares] Chichester, UK: John Wiley & Sons, Ltd Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
2	Material Type: Artigo		Failure analysis of fine Cu patterning by shave-off profiling Nojima, M. ; Fujii, M. ; Kakuhara, Y. ; Tsuchiya, H. ; Kameyama, A. ; Yokogawa, S. ; Owari, M. ; Nihei, Y. Surface and interface analysis, 2011-01, Vol.43 (1-2), p.621-624 [Periódico revisado por pares] Chichester, UK: John Wiley & Sons, Ltd Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
3	Material Type: Artigo		Holographic imaging of TiO2 (110) surface structure by differential photoelectron holography Suzuki, A. ; Hashimoto, A. ; Nojima, M. ; Owari, M. ; Nihei, Y. Surface and interface analysis, 2008-12, Vol.40 (13), p.1627-1630 [Periódico revisado por pares] Chichester, UK: John Wiley & Sons, Ltd Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
4	Material Type: Artigo		Differential photoelectron holography of Cu(100) surface using laboratory-level X-ray sources Hashimoto, A. ; Suzuki, A. ; Kisaka, Y. ; Miyasaka, S. ; Nojima, M. ; Owari, M. ; Nihei, Y. Surface and interface analysis, 2008-12, Vol.40 (13), p.1638-1640 [Periódico revisado por pares] Chichester, UK: John Wiley & Sons, Ltd Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
5	Material Type: Artigo		Shave-off depth profiling of transparent conductive films and data analysis of the profile Nakamura, K. ; Ishikawa, Y. ; Utsumi, K. ; Iigusa, H. ; Tanaka, R. ; Ishizaki, Y. ; Yamamoto, T. ; Maekawa, A. ; Owari, M. ; Nojima, M. ; Nihei, Y. Surface and interface analysis, 2006-12, Vol.38 (12-13), p.1734-1737 [Periódico revisado por pares] Chichester, UK: John Wiley & Sons, Ltd Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
6	$Study on dynamics of surface structure by rapid and time-resolved X-ray photoelectron diffraction$ $Study on dynamics of surface structure by rapid and time-resolved X-ray photoelectron diffraction$ Material Type: Artigo		Study on dynamics of surface structure by rapid and time-resolved X-ray photoelectron diffraction Kisaka, Y. ; Hashimoto, A. ; Suzuki, A. ; Miyasaka, S. ; Nojima, M. ; Owari, M. ; Nihei, Y. Surface and interface analysis, 2008-12, Vol.40 (13), p.1646-1649 [Periódico revisado por pares] Chichester, UK: John Wiley & Sons, Ltd Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
7	Material Type: Artigo		Shave-off depth profiling of dendritic short-circuit growth caused by ion migration Yamamoto, T. ; Maekawa, A. ; Ishizaki, Y. ; Tanaka, R. ; Owari, M. ; Nojima, M. ; Nihei, Y. Surface and interface analysis, 2006-12, Vol.38 (12-13), p.1662-1665 [Periódico revisado por pares] Chichester, UK: John Wiley & Sons, Ltd Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
8	Material Type: Artigo		A novel sample pretreatment method using supercritical fluids for the analysis of atmospheric environmental samples by means of time-of-flight secondary ion mass spectrometry Sakamoto, Tetsuo ; Yamamoto, Azusa ; Owari, Masanori ; Nihei, Yoshimasa Surface and interface analysis, 2006-04, Vol.38 (4), p.317-321 [Periódico revisado por pares] Chichester, UK: John Wiley & Sons, Ltd Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
9	$Surface and interface structural analysis of VOX/TiO2 (110) by X-ray photoelectron diffraction$ $Surface and interface structural analysis of VOX/TiO2 (110) by X-ray photoelectron diffraction$ Material Type: Artigo		Surface and interface structural analysis of VOX/TiO2 (110) by X-ray photoelectron diffraction Miyasaka, Shinya ; Amano, Kentaro ; Nojima, Masashi ; Owari, Masanori ; Nihei, Yoshimasa Surface and interface analysis, 2008-12, Vol.40 (13), p.1650-1654 [Periódico revisado por pares] Chichester, UK: John Wiley & Sons, Ltd Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
10	Material Type: Artigo		Pin point depth profiling for unit device or several nano-devices Maekawa, Ayaka ; Yamamoto, Takeshi ; Ishizaki, Yasuhiro ; Tanaka, Risa ; Sakamoto, Tetsuo ; Owari, Masanori ; Nojima, Masashi ; Nihei, Yoshimasa Surface and interface analysis, 2006-12, Vol.38 (12-13), p.1747-1750 [Periódico revisado por pares] Chichester, UK: John Wiley & Sons, Ltd Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por

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