Result Number | Material Type | Add to My Shelf Action | Record Details and Options |
---|---|---|---|
1 |
Material Type: magazinearticle
|
![]() |
The IEEE 802.11 universeHiertz, Guido R. ; Denteneer, Dee ; Stibor, Lothar ; Zang, Yunpeng ; Costa, Xavier Perez ; Walke, BernhardIEEE communications magazine, 2010-01, Vol.48 (1), p.62-70New York: IEEETexto completo disponível |
2 |
Material Type: magazinearticle
|
![]() |
Glaciers in Patagonia: Controversy and prospectsKargel, J. S. ; Alho, P. ; Buytaert, W. ; Célleri, R. ; Cogley, J. G. ; Dussaillant, A. ; Guido, Z. ; Haeberli, W. ; Harrison, S. ; Leonard, G. ; Maxwell, A. ; Meier, C. ; Poveda, G. ; Reid, B. ; Reynolds, J. ; Rodríguez, C. A. Portocarrero ; Romero, H. ; Schneider, J.Eos (Washington, D.C.), 2012-05, Vol.93 (22), p.212-212Washington: American Geophysical UnionTexto completo disponível |
3 |
Material Type: magazinearticle
|
![]() |
Eccomi padre mio - Il fuoco e la pagliaLopez, Guido ; Torberg, Friedrich ; Hutchinson, R. C.La Rassegna mensile di Israel, 1951-03, Vol.17 (3), p.130-136Unione delle Comunità israelitiche italianeTexto completo disponível |
4 |
Material Type: magazinearticle
|
![]() |
Competing Degradation Mechanisms in Short-Channel Transistors Under Channel Hot-Carrier Stress at Elevated TemperaturesAmat, E. ; Kauerauf, T. ; Degraeve, R. ; Rodriguez, R. ; Nafria, M. ; Aymerich, X. ; Groeseneken, G.IEEE transactions on device and materials reliability, 2009-09, Vol.9 (3), p.454-458 [Periódico revisado por pares]New York: IEEETexto completo disponível |
5 |
Material Type: magazinearticle
|
![]() |
A Software-Based Solution for Distributing and Displaying 3D UHD FilmsAquino Junior, Lucenildo ; Gomes, R. ; Silva Neto, Manoel ; Duarte, A. ; Costa, R. ; Souza Filho, GuidoIEEE multimedia, 2013-01, Vol.20 (1), p.60-68 [Periódico revisado por pares]New York: IEEETexto completo disponível |
6 |
Material Type: magazinearticle
|
![]() |
Gate Voltage Influence on the Channel Hot-Carrier Degradation of High- k -Based DevicesAmat, Esteve ; Kauerauf, T ; Degraeve, R ; Rodríguez, R ; Nafría, M ; Aymerich, X ; Groeseneken, GIEEE transactions on device and materials reliability, 2011-03, Vol.11 (1), p.92-97 [Periódico revisado por pares]IEEETexto completo disponível |
7 |
Material Type: magazinearticle
|
![]() |
Channel Hot-Carrier Degradation in Short-Channel Transistors With High- k/Metal Gate StacksAmat, E. ; Kauerauf, T. ; Degraeve, R. ; De Keersgieter, A. ; Rodriguez, R. ; Nafria, M. ; Aymerich, X. ; Groeseneken, G.IEEE transactions on device and materials reliability, 2009-09, Vol.9 (3), p.425-430 [Periódico revisado por pares]IEEETexto completo disponível |
8 |
Material Type: magazinearticle
|
![]() |
Nitrogen On-Site Generation for Heat Treatment of AluminumPlicht, G ; Edwards, RIndustrial Heating, 2004-02, Vol.71 (2), p.35-37Troy: BNP MediaTexto completo disponível |
9 |
Material Type: magazinearticle
|
![]() |
Signatures of Glacial Erosion and Retreat in the Landscape: Cosmogenic and Numerical Modeling ConstraintsWard, D J ; Anderson, R S ; Briner, J P ; Guido, Z SEos (Washington, D.C.), 2006-12, Vol.87 (52)Texto completo disponível |
10 |
Material Type: magazinearticle
|
![]() |
Desafios e oportunidades para o agronegócio da cebola no BrasilVilela, Nirlene J.(Empresa Brasileira de Pesquisa Agropecuária Hortaliças) ; Makishima, Nozomu(Empresa Brasileira de Pesquisa Agropecuária Hortaliças) ; Oliveira, Valter R.(Empresa Brasileira de Pesquisa Agropecuária Hortaliças) ; Costa, Nivaldo D.(Empresa Brasileira de Pesquisa Agropecuária Semi Árido) ; Madail, João Carlos M.(Empresa Brasileira de Pesquisa Agropecuária Clima Temperado) ; Camargo Filho, Waldemar P.(Instituto de Economia Agrícola) ; Boeing, Guido(Instituto de Planejamento e Economia Agrícola de Santa Catarina) ; Melo, Paulo César T. de(Universidade de São Paulo Escola Superior de Agricultura Luiz de Queiroz Depto. de Produção Vegetal)Horticultura brasileira, 2005, Vol.23 (4) [Periódico revisado por pares]Associação Brasileira de OlericulturaTexto completo disponível |