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Espectroscopia de raios X na faixa de energia de 5 a 200 KeV, utilizando fotodiodos PIN de silício
Espectroscopia de raios X na faixa de energia de 5 a 200 KeV, utilizando fotodiodos PIN de silício
Material Type:
Dissertação de Mestrado 		Adicionar ao Meu Espaço

Espectroscopia de raios X na faixa de energia de 5 a 200 KeV, utilizando fotodiodos PIN de silício

Marcia de Carvalho Silva Silvio Bruni Herdade

2000

Localização: IF - Instituto de Física    (https://doi.org/10.11606/D.43.2001.tde-02082013-163614 )(Acessar)

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Deste Autor:

  1. Herdade, S
  2. Silva, M

Neste Assunto:

  1. Diagnóstico Por Imagem
  2. Radiografia
  3. Raios X
  4. Espectroscopia
  5. Física

  • Realização: ABCD-USP USP   Logos de Redes Sociais: Freepik

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