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Erratum: “Donor doping of corundum (AlxGa1−x)2O3” [Appl. Phys. Lett. 121, 042110 (2022)]
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Erratum: “Donor doping of corundum (AlxGa1−x)2O3” [Appl. Phys. Lett. 121, 042110 (2022)]

Wickramaratne, Darshana ; Varley, Joel B. ; Lyons, John L.

Applied physics letters, 2022-11, Vol.121 (20) [Periódico revisado por pares]

Melville: American Institute of Physics

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2
Erratum: Direct Photon Production at Next-to–Next-to-Leading Order [Phys. Rev. Lett. 118 , 222001 (2017)]
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Erratum: Direct Photon Production at Next-to–Next-to-Leading Order [Phys. Rev. Lett. 118 , 222001 (2017)]

Campbell, John M. ; Ellis, R. Keith ; Williams, Ciaran

Physical review letters, 2020-06, Vol.124 (25), p.1-259901, Article 259901 [Periódico revisado por pares]

College Park: American Physical Society

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3
Erratum: “Phonon-boundary scattering and thermal transport in AlxGa1−xN: Effect of layer thickness” [Appl. Phys. Lett. 117, 252102 (2020)]
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Erratum: “Phonon-boundary scattering and thermal transport in AlxGa1−xN: Effect of layer thickness” [Appl. Phys. Lett. 117, 252102 (2020)]

Tran, Dat Q. ; Delgado-Carrascon, Rosalia ; Muth, John F. ; Paskova, Tania ; Nawaz, Muhammad ; Darakchieva, Vanya ; Paskov, Plamen P.

Applied physics letters, 2021-05, Vol.118 (18) [Periódico revisado por pares]

Melville: American Institute of Physics

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4
Publisher's Note: “Phonon-boundary scattering and thermal transport in AlxGa1−xN: Effect of layer thickness” [Appl. Phys Lett. 117, 252102 (2020)]
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Publisher's Note: “Phonon-boundary scattering and thermal transport in AlxGa1−xN: Effect of layer thickness” [Appl. Phys Lett. 117, 252102 (2020)]

Tran, Dat Q. ; Delgado-Carrascon, Rosalia ; Muth, John F. ; Paskova, Tania ; Nawaz, Muhammad ; Darakchieva, Vanya ; Paskov, Plamen P.

Applied physics letters, 2021-03, Vol.118 (10) [Periódico revisado por pares]

Melville: American Institute of Physics

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5
Response to “Comment on ‘Catastrophic degradation of the interface of epitaxial silicon carbide on silicon at high temperatures’” [Appl. Phys. Lett. 109, 196101 (2016)]
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Response to “Comment on ‘Catastrophic degradation of the interface of epitaxial silicon carbide on silicon at high temperatures’” [Appl. Phys. Lett. 109, 196101 (2016)]

Pradeepkumar, Aiswarya ; Mishra, Neeraj ; Kermany, Atieh Ranjbar ; Boeckl, John J. ; Hellerstedt, Jack ; Fuhrer, Michael S. ; Iacopi, Francesca

Applied physics letters, 2016-11, Vol.109 (19) [Periódico revisado por pares]

Melville: American Institute of Physics

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6
Erratum: “Terahertz quantum-cascade patch-antenna VECSEL with low power dissipation” [Appl. Phys. Lett. 116, 241103 (2020)]
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Erratum: “Terahertz quantum-cascade patch-antenna VECSEL with low power dissipation” [Appl. Phys. Lett. 116, 241103 (2020)]

Curwen, Christopher A. ; Reno, John L. ; Williams, Benjamin S.

Applied physics letters, 2020-07, Vol.117 (1) [Periódico revisado por pares]

Melville: American Institute of Physics

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7
Erratum: “Defect identification based on first-principles calculations for deep level transient spectroscopy” [Appl. Phys. Lett. 113, 192106 (2018)]
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Erratum: “Defect identification based on first-principles calculations for deep level transient spectroscopy” [Appl. Phys. Lett. 113, 192106 (2018)]

Wickramaratne, Darshana ; Dreyer, Cyrus E. ; Monserrat, Bartomeu ; Shen, Jimmy-Xuan ; Lyons, John L. ; Alkauskas, Audrius ; Van de Walle, Chris. G.

Applied physics letters, 2023-08, Vol.123 (7) [Periódico revisado por pares]

Melville: American Institute of Physics

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8
Erratum: “Hot electron generation under large-signal radio frequency operation of GaN high-electron-mobility transistors” [Appl. Phys. Lett. 111, 013506 (2017)]
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Erratum: “Hot electron generation under large-signal radio frequency operation of GaN high-electron-mobility transistors” [Appl. Phys. Lett. 111, 013506 (2017)]

Latorre-Rey, Alvaro D. ; Sabatti, Flavio F. M. ; Albrecht, John D. ; Saraniti, Marco

Applied physics letters, 2017-09, Vol.111 (12) [Periódico revisado por pares]

Melville: American Institute of Physics

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9
Barkhausen noise analysis of thin film ferroelectrics
Barkhausen noise analysis of thin film ferroelectrics
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Barkhausen noise analysis of thin film ferroelectrics

Yazawa, Keisuke ; Ducharne, Benjamin ; Uchida, Hiroshi ; Funakubo, Hiroshi ; Blendell, John E.

Applied physics letters, 2020-07, Vol.117 (1) [Periódico revisado por pares]

Melville: American Institute of Physics

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10
Response to “Comment on ‘A coordinate system invariant formulation for space-charge limited current in vacuum’” [Appl. Phys. Lett. 119, 206101 (2021)]
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Response to “Comment on ‘A coordinate system invariant formulation for space-charge limited current in vacuum’” [Appl. Phys. Lett. 119, 206101 (2021)]

Darr, Adam M. ; Sree Harsha, N. R. ; Garner, Allen L.

Applied physics letters, 2021-11, Vol.119 (20) [Periódico revisado por pares]

Melville: American Institute of Physics

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