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Investigation of Transient Reverse Currents in X-Ray Detector Pin Diodes by Discharge Current Transient Spectroscopy
Investigation of Transient Reverse Currents in X-Ray Detector Pin Diodes by Discharge Current Transient Spectroscopy
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Investigation of Transient Reverse Currents in X-Ray Detector Pin Diodes by Discharge Current Transient Spectroscopy

Hideharu Matsuura, Hideharu Matsuura ; Kazushige Segawa, Kazushige Segawa

Japanese Journal of Applied Physics, 2000-01, Vol.39 (1R), p.178 [Periódico revisado por pares]

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Lifetime and Diffusion Coefficient of Carriers in X-Ray Irradiated a-Si:H
Lifetime and Diffusion Coefficient of Carriers in X-Ray Irradiated a-Si:H
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Lifetime and Diffusion Coefficient of Carriers in X-Ray Irradiated a-Si:H

Miyoshi, Tadaki ; Aoyagi, Yoshinobu ; Segawa, Yusaburo ; Namba, Susumu ; Okamoto, Hiroaki ; Hamakawa, Yoshihiro

Japanese Journal of Applied Physics, 1983-05, Vol.22 (5R), p.886 [Periódico revisado por pares]

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  • Realização: ABCD-USP USP   Logos de Redes Sociais: Freepik

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