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ELECTRICAL CHARACTERIZATION OF PLANAR SILICON NANOWIRE FIELD-EFFECT TRANSISTORS
ELECTRICAL CHARACTERIZATION OF PLANAR SILICON NANOWIRE FIELD-EFFECT TRANSISTORS
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ELECTRICAL CHARACTERIZATION OF PLANAR SILICON NANOWIRE FIELD-EFFECT TRANSISTORS

ROSAZ, G. ; SALEM, B. ; PAUC, N. ; GENTILE, P. ; POTIÉ, A. ; SOLANKI, A. ; BASSANI, F. ; BARON, T. ; CAGNON, L.

International journal of nanoscience, 2012-08, Vol.11 (4), p.1240011-1240015 [Revista revisada por pares]

World Scientific Publishing Company

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Adhesion Limits and Design Criteria for Nanorelays
Adhesion Limits and Design Criteria for Nanorelays
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Adhesion Limits and Design Criteria for Nanorelays

Lin, Kevin L. ; Cross, Graham L. W. ; Gleeson, Peter ; de Silva, Johann P. ; Levander, Alejandro ; Munoz, Jorge A. ; Pawashe, Chytra ; Potie, Alexis ; Theofanis, Patrick ; Boland, John J. ; Kuhn, Kelin J.

IEEE transactions on electron devices, 2016-01, Vol.63 (1), p.465-470 [Revista revisada por pares]

New York: IEEE

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