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Refinado por: Nome da Publicação: Journal of Integrated Circuits and Systems remover
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1
Fabrication of Ti-Si-Ti metal-semiconductor-metal photodetectors using low temperature rapid thermal annealing
Fabrication of Ti-Si-Ti metal-semiconductor-metal photodetectors using low temperature rapid thermal annealing
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Fabrication of Ti-Si-Ti metal-semiconductor-metal photodetectors using low temperature rapid thermal annealing

Ricardo Luís Ohta Carlos Eduardo Viana; Nilton Itiro Morimoto 1962-; Ben-Hur Viana Borges

Journal of Integrated Circuits and Systems v.2, n. 2, September 2007

São Paulo - Porto Alegre 2007

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2
Plasma parameters obtained with planar probe and optical emission spectroscopy
Plasma parameters obtained with planar probe and optical emission spectroscopy
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Plasma parameters obtained with planar probe and optical emission spectroscopy

Andre M Daltrini Stanislav Moshkalev; Laura Swart; Patrick Bernard Verdonck 1958-

Journal of Integrated Circuits and Systems v. 2, n. 2, September 2007

São Paulo - Porto Alegre 2007

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3
Study of MOS capacitor with TiO2 and SiO2 and SiO2/TiO2 gate dielectric
Study of MOS capacitor with TiO2 and SiO2 and SiO2/TiO2 gate dielectric
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Study of MOS capacitor with TiO2 and SiO2 and SiO2/TiO2 gate dielectric

Katia Franklin Albertin M A Valle; Inés Pereyra 1947-

Journal of Integrated Circuits and Systems v.2, n. 2, September 2007

São Paulo - Porto Alegre 2007

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4
Study of MOS capacitor with TiO2 and SiO2 and SiO2/TiO2 gate dielectric
Study of MOS capacitor with TiO2 and SiO2 and SiO2/TiO2 gate dielectric
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Study of MOS capacitor with TiO2 and SiO2 and SiO2/TiO2 gate dielectric

Katia Franklin Albertin M A Valle; Inés Pereyra 1947-

Journal of Integrated Circuits and Systems v.2, n. 2, September 2007

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5
Plasma parameters obtained with planar probe and optical emission spectroscopy
Plasma parameters obtained with planar probe and optical emission spectroscopy
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Plasma parameters obtained with planar probe and optical emission spectroscopy

Andre M Daltrini Stanislav Moshkalev; Laura Swart; Patrick Bernard Verdonck 1958-

Journal of Integrated Circuits and Systems v. 2, n. 2, September 2007

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Fabrication of Ti-Si-Ti metal-semiconductor-metal photodetectors using low temperature rapid thermal annealing
Fabrication of Ti-Si-Ti metal-semiconductor-metal photodetectors using low temperature rapid thermal annealing
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Fabrication of Ti-Si-Ti metal-semiconductor-metal photodetectors using low temperature rapid thermal annealing

Ricardo Luís Ohta Carlos Eduardo Viana; Nilton Itiro Morimoto 1962-; Ben-Hur Viana Borges

Journal of Integrated Circuits and Systems v.2, n. 2, September 2007

São Paulo - Porto Alegre 2007

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Autor/Criador 

  1. Swart, L  (2)
  2. Moshkalev, S  (2)
  3. Valle, M  (2)
  4. Pereyra, I  (2)
  5. Morimoto, N  (2)
  6. Borges, B  (2)
  7. Daltrini, A  (2)
  8. Viana, C  (2)
  9. Ohta, R  (2)
  10. Albertin, K  (2)
  11. Verdonck, P  (2)
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Deste Autor:

  1. Swart, L
  2. Moshkalev, S
  3. Valle, M
  4. Pereyra, I
  5. Morimoto, N

Neste Assunto:

  1. Ciência Da Computação
  2. Microeletrônica

  • Realização: ABCD-USP USP   Logos de Redes Sociais: Freepik

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