Result Number | Material Type | Add to My Shelf Action | Record Details and Options |
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Material Type: Dissertação de Mestrado
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Análise do desempenho elétrico de transistores orgânicos visando a fabricação sobre substratos flexíveis.Zanchin, Vinicius RamosBiblioteca Digital de Teses e Dissertações da USP; Universidade de São Paulo; Escola Politécnica 2013-06-19Acesso online. A biblioteca também possui exemplares impressos. |
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Material Type: Dissertação de Mestrado
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Desenvolvimento de uma metodologia de fabricação de transistores de filmes finos orgânicos.Cavallari, Marco RobertoBiblioteca Digital de Teses e Dissertações da USP; Universidade de São Paulo; Escola Politécnica 2010-02-19Acesso online. A biblioteca também possui exemplares impressos. |
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Material Type: Artigo
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Advantages, manufacturing processes and challenges of FinFET technologyZhou, JingfengJournal of physics. Conference series, 2024-07, Vol.2798 (1), p.12045 [Periódico revisado por pares]Bristol: IOP PublishingTexto completo disponível |
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Material Type: Artigo
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Evaluating Reliance Level of a Virtual Metrology SystemCHENG, Fan-Tien ; CHEN, Yeh-Tung ; SU, Yu-Chuan ; ZENG, Deng-LinIEEE transactions on semiconductor manufacturing, 2008-02, Vol.21 (1), p.92-103 [Periódico revisado por pares]New York, NY: IEEETexto completo disponível |
5 |
Material Type: Artigo
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Prospects of manufacturing organic semiconductor-based integrated circuitsLodha, A. ; Singh, R.IEEE transactions on semiconductor manufacturing, 2001-08, Vol.14 (3), p.281-296 [Periódico revisado por pares]New York, NY: IEEETexto completo disponível |
6 |
Material Type: Artigo
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Robust Analog Design for Automotive Applications by Design Centering With Safe Operating AreasSobe, U. ; Rooch, K.-H. ; Ripp, A. ; Pronath, M.IEEE transactions on semiconductor manufacturing, 2009-05, Vol.22 (2), p.217-224 [Periódico revisado por pares]New York, NY: IEEETexto completo disponível |
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Material Type: Artigo
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A Sub-2 W Low Power IA Processor for Mobile Internet Devices in 45 nm High-k Metal Gate CMOSGerosa, G. ; Curtis, S. ; D'Addeo, M. ; Bo Jiang ; Kuttanna, B. ; Merchant, F. ; Patel, B. ; Taufique, M.H. ; Samarchi, H.IEEE journal of solid-state circuits, 2009-01, Vol.44 (1), p.73-82 [Periódico revisado por pares]New York, NY: IEEETexto completo disponível |
8 |
Material Type: Artigo
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Life Cycle Aware Computing: Reusing Silicon TechnologyOliver, J.Y. ; Amirtharajah, R. ; Akella, V. ; Geyer, R. ; Chong, F.T.Computer (Long Beach, Calif.), 2007-12, Vol.40 (12), p.56-61 [Periódico revisado por pares]New York: IEEETexto completo disponível |
9 |
Material Type: Ata de Congresso
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Analyzing the Impact of SEUs on SRAMs with Resistive-Bridge DefectsCardoso Medeiros, G. ; Bolzani Poehls, L. ; Vargas, Fabian F.2016 29th International Conference on VLSI Design and 2016 15th International Conference on Embedded Systems (VLSID), 2016, p.487-492IEEETexto completo disponível |
10 |
Material Type: Artigo
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Digital Foundations: The Making of Silicon-Gate Manufacturing TechnologyBROCK, DAVID C. ; LÉCUYER, CHRISTOPHETechnology and culture, 2012-07, Vol.53 (3), p.561-597 [Periódico revisado por pares]Baltimore, MD: Johns Hopkins University PressTexto completo disponível |