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Análise do desempenho elétrico de transistores orgânicos visando a fabricação sobre substratos flexíveis.
Análise do desempenho elétrico de transistores orgânicos visando a fabricação sobre substratos flexíveis.
Material Type:
Dissertação de Mestrado 		Adicionar ao Meu Espaço

Análise do desempenho elétrico de transistores orgânicos visando a fabricação sobre substratos flexíveis.

Zanchin, Vinicius Ramos

Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da USP; Universidade de São Paulo; Escola Politécnica 2013-06-19

Acesso online. A biblioteca também possui exemplares impressos.

2
Desenvolvimento de uma metodologia de fabricação de transistores de filmes finos orgânicos.
Desenvolvimento de uma metodologia de fabricação de transistores de filmes finos orgânicos.
Material Type:
Dissertação de Mestrado 		Adicionar ao Meu Espaço

Desenvolvimento de uma metodologia de fabricação de transistores de filmes finos orgânicos.

Cavallari, Marco Roberto

Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da USP; Universidade de São Paulo; Escola Politécnica 2010-02-19

Acesso online. A biblioteca também possui exemplares impressos.

3
Advantages, manufacturing processes and challenges of FinFET technology
Advantages, manufacturing processes and challenges of FinFET technology
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Advantages, manufacturing processes and challenges of FinFET technology

Zhou, Jingfeng

Journal of physics. Conference series, 2024-07, Vol.2798 (1), p.12045 [Periódico revisado por pares]

Bristol: IOP Publishing

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4
Evaluating Reliance Level of a Virtual Metrology System
Evaluating Reliance Level of a Virtual Metrology System
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Evaluating Reliance Level of a Virtual Metrology System

CHENG, Fan-Tien ; CHEN, Yeh-Tung ; SU, Yu-Chuan ; ZENG, Deng-Lin

IEEE transactions on semiconductor manufacturing, 2008-02, Vol.21 (1), p.92-103 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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5
Prospects of manufacturing organic semiconductor-based integrated circuits
Prospects of manufacturing organic semiconductor-based integrated circuits
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Prospects of manufacturing organic semiconductor-based integrated circuits

Lodha, A. ; Singh, R.

IEEE transactions on semiconductor manufacturing, 2001-08, Vol.14 (3), p.281-296 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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Citações Citado por
6
Robust Analog Design for Automotive Applications by Design Centering With Safe Operating Areas
Robust Analog Design for Automotive Applications by Design Centering With Safe Operating Areas
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Robust Analog Design for Automotive Applications by Design Centering With Safe Operating Areas

Sobe, U. ; Rooch, K.-H. ; Ripp, A. ; Pronath, M.

IEEE transactions on semiconductor manufacturing, 2009-05, Vol.22 (2), p.217-224 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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7
A Sub-2 W Low Power IA Processor for Mobile Internet Devices in 45 nm High-k Metal Gate CMOS
A Sub-2 W Low Power IA Processor for Mobile Internet Devices in 45 nm High-k Metal Gate CMOS
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

A Sub-2 W Low Power IA Processor for Mobile Internet Devices in 45 nm High-k Metal Gate CMOS

Gerosa, G. ; Curtis, S. ; D'Addeo, M. ; Bo Jiang ; Kuttanna, B. ; Merchant, F. ; Patel, B. ; Taufique, M.H. ; Samarchi, H.

IEEE journal of solid-state circuits, 2009-01, Vol.44 (1), p.73-82 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

Texto completo disponível

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8
Life Cycle Aware Computing: Reusing Silicon Technology
Life Cycle Aware Computing: Reusing Silicon Technology
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Life Cycle Aware Computing: Reusing Silicon Technology

Oliver, J.Y. ; Amirtharajah, R. ; Akella, V. ; Geyer, R. ; Chong, F.T.

Computer (Long Beach, Calif.), 2007-12, Vol.40 (12), p.56-61 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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9
Analyzing the Impact of SEUs on SRAMs with Resistive-Bridge Defects
Analyzing the Impact of SEUs on SRAMs with Resistive-Bridge Defects
Material Type:
Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Analyzing the Impact of SEUs on SRAMs with Resistive-Bridge Defects

Cardoso Medeiros, G. ; Bolzani Poehls, L. ; Vargas, Fabian F.

2016 29th International Conference on VLSI Design and 2016 15th International Conference on Embedded Systems (VLSID), 2016, p.487-492

IEEE

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10
Digital Foundations: The Making of Silicon-Gate Manufacturing Technology
Digital Foundations: The Making of Silicon-Gate Manufacturing Technology
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Digital Foundations: The Making of Silicon-Gate Manufacturing Technology

BROCK, DAVID C. ; LÉCUYER, CHRISTOPHE

Technology and culture, 2012-07, Vol.53 (3), p.561-597 [Periódico revisado por pares]

Baltimore, MD: Johns Hopkins University Press

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