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Nanoscale characterization of bismuth telluride epitaxial layers by advanced X-ray analysis
Nanoscale characterization of bismuth telluride epitaxial layers by advanced X-ray analysis
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Nanoscale characterization of bismuth telluride epitaxial layers by advanced X-ray analysis

Sergio Luiz Morelhao Celso I Fornari; Paulo Henrique de Oliveira Rappl; Eduardo Abramof

Journal of Applied Crystallography Copenhagen v. 50, n. 2, p. 399-410, 2017

Copenhagen 2017

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Deste Autor:

  1. Morelhao, S
  2. Rappl, P
  3. Abramof, E
  4. Fornari, C

Neste Assunto:

  1. Difração Por Raios X
  2. Materiais Nanoestruturados

  • Realização: ABCD-USP USP   Logos de Redes Sociais: Freepik

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