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DSP-Driven Self-Tuning of RF Circuits for Process-Induced Performance Variability
DSP-Driven Self-Tuning of RF Circuits for Process-Induced Performance Variability
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DSP-Driven Self-Tuning of RF Circuits for Process-Induced Performance Variability

Donghoon Han ; Byung Sung Kim ; Chatterjee, A.

IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems, 2010-02, Vol.18 (2), p.305-314 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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Design and Implementation of Active Decoupling Capacitor Circuits for Power Supply Regulation in Digital ICs
Design and Implementation of Active Decoupling Capacitor Circuits for Power Supply Regulation in Digital ICs
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Design and Implementation of Active Decoupling Capacitor Circuits for Power Supply Regulation in Digital ICs

Jie Gu ; Harjani, R. ; Kim, C.H.

IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems, 2009-02, Vol.17 (2), p.292-301 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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3
A General Power Model of Differential Power Analysis Attacks to Static Logic Circuits
A General Power Model of Differential Power Analysis Attacks to Static Logic Circuits
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A General Power Model of Differential Power Analysis Attacks to Static Logic Circuits

Alioto, Massimo ; Poli, Massimo ; Rocchi, Santina

IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems, 2010-05, Vol.18 (5), p.711-724 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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4
Low-power scan design using first-level supply gating
Low-power scan design using first-level supply gating
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Low-power scan design using first-level supply gating

Bhunia, S. ; Mahmoodi, H. ; Ghosh, D. ; Mukhopadhyay, S. ; Roy, K.

IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems, 2005-03, Vol.13 (3), p.384-395 [Periódico revisado por pares]

Piscataway, NJ: IEEE

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5
A Test Generation Framework for Quantum Cellular Automata Circuits
A Test Generation Framework for Quantum Cellular Automata Circuits
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A Test Generation Framework for Quantum Cellular Automata Circuits

Gupta, P. ; Jha, N.K. ; Lingappan, L.

IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems, 2007-01, Vol.15 (1), p.24-36 [Periódico revisado por pares]

Piscataway, NJ: IEEE

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6
A BIST TPG for Low Power Dissipation and High Fault Coverage
A BIST TPG for Low Power Dissipation and High Fault Coverage
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A BIST TPG for Low Power Dissipation and High Fault Coverage

WANG, Seongmoon

IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems, 2007-07, Vol.15 (7), p.777-789 [Periódico revisado por pares]

Piscataway, NJ: IEEE

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7
Self-Test Techniques for Crypto-Devices
Self-Test Techniques for Crypto-Devices
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Self-Test Techniques for Crypto-Devices

Di Natale, G. ; Doulcier, M. ; Flottes, M.-L. ; Rouzeyre, B.

IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems, 2010-02, Vol.18 (2), p.329-333 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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8
An automated design tool for analog layouts
An automated design tool for analog layouts
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An automated design tool for analog layouts

Lihong Zhang ; Kleine, U. ; Yingtao Jiang

IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems, 2006-08, Vol.14 (8), p.881-894 [Periódico revisado por pares]

Piscataway, NJ: IEEE

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9
Fully CMOS-Compatible On-Chip Optical Clock Distribution and Recovery
Fully CMOS-Compatible On-Chip Optical Clock Distribution and Recovery
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Fully CMOS-Compatible On-Chip Optical Clock Distribution and Recovery

Thangaraj, Charles ; Pownall, Robert ; Nikkel, Phil ; Guangwei Yuan ; Lear, Kevin L ; Chen, Tom

IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems, 2010-10, Vol.18 (10), p.1385-1398 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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10
Application-Dependent Testing of FPGAs
Application-Dependent Testing of FPGAs
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Application-Dependent Testing of FPGAs

Tahoori, M.

IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems, 2006-09, Vol.14 (9), p.1024-1033 [Periódico revisado por pares]

Piscataway, NJ: IEEE

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