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Optimizing the front and back biases for the best sense margin and retention time in UTBOX FBRAM
Optimizing the front and back biases for the best sense margin and retention time in UTBOX FBRAM
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Optimizing the front and back biases for the best sense margin and retention time in UTBOX FBRAM

Luciano Mendes Almeida Kátia Regina Akemi Sasaki; Christian Caillat; Marc Aoulaiche; Nadine Collaert; Malgorzata Jurczak; Eddy Simoen; Cor Claeys; João Antonio Martino 1959-

Solid-State Electronics Volume 90, December 2013, Pages 149-154 v. 90, p. 149-154, Dec 2013

2013

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On the variability of the low-frequency noise in UTBOX SOI nMOSFETs
On the variability of the low-frequency noise in UTBOX SOI nMOSFETs
Material Type:
Artigo de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

On the variability of the low-frequency noise in UTBOX SOI nMOSFETs

Eddy Simoen Maria Glória Caño de Andrade; Luciano Mendes Almeida; Marc Aoulaiche; Christian Caillat; Malgorzata Jurczak; Cor Claeys; International Symposium on Microelectronics Technology and Devices (27th 2012 Brasilia)

Microelectronics technology and devices, SBMicro Pennington: Electrochemical Society, 2012

Pennington 2012

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Neste Assunto:

  1. Microeletrônica
  2. Simulação

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