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Mechanical properties and adhesion characteristics of hybrid sol–gel thin films
Mechanical properties and adhesion characteristics of hybrid sol–gel thin films
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Mechanical properties and adhesion characteristics of hybrid sol–gel thin films

Atanacio, Armand J. ; Latella, Bruno A. ; Barbé, Christophe J. ; Swain, Michael V.

Surface & coatings technology, 2005-03, Vol.192 (2), p.354-364 [Periódico revisado por pares]

Lausanne: Elsevier B.V

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Adaptive ECG beat classification by ordinal pattern based entropies
Adaptive ECG beat classification by ordinal pattern based entropies
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Adaptive ECG beat classification by ordinal pattern based entropies

Bidias à Mougoufan, Jean Bertin ; Eyebe Fouda, J.S. Armand ; Tchuente, Maurice ; Koepf, Wolfram

Communications in nonlinear science & numerical simulation, 2020-05, Vol.84, p.105156, Article 105156 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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Experimental hysteresis in memristor based Duffing oscillator
Experimental hysteresis in memristor based Duffing oscillator
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Experimental hysteresis in memristor based Duffing oscillator

Bodo, B. ; Armand Eyebe Fouda, J.S. ; Mvogo, A. ; Tagne, S.

Chaos, solitons and fractals, 2018-10, Vol.115, p.190-195 [Periódico revisado por pares]

Elsevier Ltd

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Detecting regular dynamics from time series using permutations slopes
Detecting regular dynamics from time series using permutations slopes
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Detecting regular dynamics from time series using permutations slopes

Eyebe Fouda, J.S. Armand ; Koepf, Wolfram

Communications in nonlinear science & numerical simulation, 2015-10, Vol.27 (1-3), p.216-227 [Periódico revisado por pares]

Elsevier B.V

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A fast chaotic block cipher for image encryption
A fast chaotic block cipher for image encryption
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A fast chaotic block cipher for image encryption

Armand Eyebe Fouda, J.S. ; Yves Effa, J. ; Sabat, Samrat L. ; Ali, Maaruf

Communications in nonlinear science & numerical simulation, 2014-03, Vol.19 (3), p.578-588 [Periódico revisado por pares]

Elsevier B.V

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The ordinal Kolmogorov-Sinai entropy: A generalized approximation
The ordinal Kolmogorov-Sinai entropy: A generalized approximation
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The ordinal Kolmogorov-Sinai entropy: A generalized approximation

Eyebe Fouda, J.S. Armand ; Koepf, Wolfram ; Jacquir, Sabir

Communications in nonlinear science & numerical simulation, 2017-05, Vol.46, p.103-115 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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Electrical Properties and Defect Chemistry of Indium-Doped TiO2: Electrical Conductivity
Electrical Properties and Defect Chemistry of Indium-Doped TiO2: Electrical Conductivity
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Electrical Properties and Defect Chemistry of Indium-Doped TiO2: Electrical Conductivity

Nowotny, Janusz ; Malik, Anam ; Alim, Mohammad A. ; Bak, Tadeusz ; Atanacio, Armand J.

ECS journal of solid state science and technology, 2014-01, Vol.3 (10), p.P330-P339 [Periódico revisado por pares]

The Electrochemical Society

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Utilizing the meso-scale grain boundary stress to estimate the onset of delamination in 2099-T861 aluminium–lithium
Utilizing the meso-scale grain boundary stress to estimate the onset of delamination in 2099-T861 aluminium–lithium
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Utilizing the meso-scale grain boundary stress to estimate the onset of delamination in 2099-T861 aluminium–lithium

McDonald, Russell J ; Beaudoin, Armand J

Modelling and simulation in materials science and engineering, 2010-09, Vol.18 (6), p.065007 [Periódico revisado por pares]

IOP Publishing

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A multiplierless hyperchaotic system using coupled Duffing oscillators
A multiplierless hyperchaotic system using coupled Duffing oscillators
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A multiplierless hyperchaotic system using coupled Duffing oscillators

Eyebe Fouda, J.S. Armand ; Sabat, Samrat L.

Communications in nonlinear science & numerical simulation, 2015-01, Vol.20 (1), p.24-31 [Periódico revisado por pares]

Elsevier B.V

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New numerical low frequency noise model for front and buried oxide trap density characterization in FDSOI MOSFETs
New numerical low frequency noise model for front and buried oxide trap density characterization in FDSOI MOSFETs
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New numerical low frequency noise model for front and buried oxide trap density characterization in FDSOI MOSFETs

El Husseini, J. ; Martinez, F. ; Armand, J. ; Bawedin, M. ; Valenza, M. ; Ritzenthaler, R. ; Lime, F. ; Iñiguez, B. ; Faynot, O. ; Le Royer, C.

Microelectronic engineering, 2011-07, Vol.88 (7), p.1286-1290 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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