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Quality tests of the LHCb muon chambers at the LNF production site
Quality tests of the LHCb muon chambers at the LNF production site
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Quality tests of the LHCb muon chambers at the LNF production site

Anelli, M. ; Campana, P. ; Dane, E. ; Forti, C. ; Martellotti, G. ; Penso, G. ; Pinci, D. ; Rosellini, R. ; Santoni, M. ; Sarti, A. ; Sciubba, A.

IEEE transactions on nuclear science, 2006-02, Vol.53 (1), p.330-335 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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A pixel readout chip for 10-30 MRad in standard 0.25 mu m CMOS
A pixel readout chip for 10-30 MRad in standard 0.25 mu m CMOS
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A pixel readout chip for 10-30 MRad in standard 0.25 mu m CMOS

Campbell, M ; Anelli, G ; Burns, M ; Cantatore, E ; Casagrande, L ; Delmastro, M ; Dinapoli, R ; Faccio, F ; Heijne, E ; Jarron, P ; Luptak, M ; Marchioro, A ; Martinengo, P ; Minervini, D ; Morel, M ; Pernigotti, E ; Ropotar, I ; Snoeys, W ; Wyllie, K

IEEE transactions on nuclear science, 1999, Vol.46 (3) [Periódico revisado por pares]

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A pixel readout chip for 10-30 MRad in standard 0.25 /spl mu/m CMOS
A pixel readout chip for 10-30 MRad in standard 0.25 /spl mu/m CMOS
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A pixel readout chip for 10-30 MRad in standard 0.25 /spl mu/m CMOS

Campbell, M. ; Anelli, G. ; Burns, M. ; Cantatore, E. ; Casagrande, L. ; Delmastro, M. ; Dinapoli, R. ; Faccio, F. ; Heijne, E. ; Jarron, P. ; Luptak, M. ; Marchioro, A. ; Martinengo, P. ; Minervini, D. ; Morel, M. ; Pernigotti, E. ; Ropotar, I. ; Snoeys, W. ; Wyllie, K.

IEEE transactions on nuclear science, 1999-06, Vol.46 (3), p.156-160 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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A pixel readout chip for 10-30 MRad in standard 0.25 mum CMOS
A pixel readout chip for 10-30 MRad in standard 0.25 mum CMOS
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A pixel readout chip for 10-30 MRad in standard 0.25 mum CMOS

Campbell, M ; Anelli, G ; Burns, M ; Cantatore, E ; Casagrande, L ; Delmastro, M ; Dinapoli, R ; Faccio, F ; Heijne, E ; Jarron, P ; Luptak, M ; Marchioro, A ; Martinengo, P ; Minervini, D ; Morel, M ; Pernigotti, E ; Ropotar, I ; Snoeys, W ; Wyllie, K

IEEE transactions on nuclear science, 1999-06, Vol.46 (3), p.156-160 [Periódico revisado por pares]

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