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Data Quality: Some Comments on the NASA Software Defect Datasets
Data Quality: Some Comments on the NASA Software Defect Datasets
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Data Quality: Some Comments on the NASA Software Defect Datasets

Shepperd, M. ; Qinbao Song ; Zhongbin Sun ; Mair, C.

IEEE transactions on software engineering, 2013-09, Vol.39 (9), p.1208-1215 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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2
Researcher Bias: The Use of Machine Learning in Software Defect Prediction
Researcher Bias: The Use of Machine Learning in Software Defect Prediction
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Researcher Bias: The Use of Machine Learning in Software Defect Prediction

Shepperd, Martin ; Bowes, David ; Hall, Tracy

IEEE transactions on software engineering, 2014-06, Vol.40 (6), p.603-616 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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3
Software defect prediction using ensemble learning on selected features
Software defect prediction using ensemble learning on selected features
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Software defect prediction using ensemble learning on selected features

Laradji, Issam H. ; Alshayeb, Mohammad ; Ghouti, Lahouari

Information and software technology, 2015-02, Vol.58, p.388-402 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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4
Learning a Metric for Code Readability
Learning a Metric for Code Readability
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Learning a Metric for Code Readability

Buse, Raymond P L ; Weimer, Westley R

IEEE transactions on software engineering, 2010-07, Vol.36 (4), p.546-558 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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5
A General Software Defect-Proneness Prediction Framework
A General Software Defect-Proneness Prediction Framework
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A General Software Defect-Proneness Prediction Framework

Qinbao Song ; Zihan Jia ; Shepperd, M ; Shi Ying ; Jin Liu

IEEE transactions on software engineering, 2011-05, Vol.37 (3), p.356-370 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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6
Reducing Features to Improve Code Change-Based Bug Prediction
Reducing Features to Improve Code Change-Based Bug Prediction
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Reducing Features to Improve Code Change-Based Bug Prediction

Shivaji, S. ; Whitehead, E. James ; Akella, R. ; Sunghun Kim

IEEE transactions on software engineering, 2013-04, Vol.39 (4), p.552-569 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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7
Classifying Software Changes: Clean or Buggy?
Classifying Software Changes: Clean or Buggy?
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Classifying Software Changes: Clean or Buggy?

Kim, Sunghun ; Whitehead, E. James ; Zhang, Yi

IEEE transactions on software engineering, 2008-03, Vol.34 (2), p.181-196 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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8
An empirical analysis of data preprocessing for machine learning-based software cost estimation
An empirical analysis of data preprocessing for machine learning-based software cost estimation
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An empirical analysis of data preprocessing for machine learning-based software cost estimation

Huang, Jianglin ; Li, Yan-Fu ; Xie, Min

Information and software technology, 2015-11, Vol.67, p.108-127 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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9
Machine Learning Applied to Software Testing: A Systematic Mapping Study
Machine Learning Applied to Software Testing: A Systematic Mapping Study
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Machine Learning Applied to Software Testing: A Systematic Mapping Study

Durelli, Vinicius H. S. ; Durelli, Rafael S. ; Borges, Simone S. ; Endo, Andre T. ; Eler, Marcelo M. ; Dias, Diego R. C. ; Guimaraes, Marcelo P.

IEEE transactions on reliability, 2019-09, Vol.68 (3), p.1189-1212 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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10
Compositional Shape Analysis by Means of Bi-Abduction
Compositional Shape Analysis by Means of Bi-Abduction
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Compositional Shape Analysis by Means of Bi-Abduction

CALCAGNO, Cristiano ; DISTEFANO, Dino ; O'HEARN, Peter W ; YANG, Hongseok

Journal of the ACM, 2011-12, Vol.58 (6), p.1-66 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: Association for Computing Machinery

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