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A Survey on Software Fault Localization
A Survey on Software Fault Localization
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A Survey on Software Fault Localization

Wong, W. Eric ; Ruizhi Gao ; Yihao Li ; Abreu, Rui ; Wotawa, Franz

IEEE transactions on software engineering, 2016-08, Vol.42 (8), p.707-740 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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2
Challenges and success factors for large-scale agile transformations: A systematic literature review
Challenges and success factors for large-scale agile transformations: A systematic literature review
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Challenges and success factors for large-scale agile transformations: A systematic literature review

Dikert, Kim ; Paasivaara, Maria ; Lassenius, Casper

The Journal of systems and software, 2016-09, Vol.119, p.87-108 [Periódico revisado por pares]

New York: Elsevier Inc

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3
A large-scale empirical study of just-in-time quality assurance
A large-scale empirical study of just-in-time quality assurance
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A large-scale empirical study of just-in-time quality assurance

Kamei, Y. ; Shihab, E. ; Adams, B. ; Hassan, A. E. ; Mockus, A. ; Sinha, A. ; Ubayashi, N.

IEEE transactions on software engineering, 2013-06, Vol.39 (6), p.757-773 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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4
Tuning for software analytics: Is it really necessary?
Tuning for software analytics: Is it really necessary?
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Tuning for software analytics: Is it really necessary?

Fu, Wei ; Menzies, Tim ; Shen, Xipeng

Information and software technology, 2016-08, Vol.76, p.135-146 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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5
Data Quality: Some Comments on the NASA Software Defect Datasets
Data Quality: Some Comments on the NASA Software Defect Datasets
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Data Quality: Some Comments on the NASA Software Defect Datasets

Shepperd, M. ; Qinbao Song ; Zhongbin Sun ; Mair, C.

IEEE transactions on software engineering, 2013-09, Vol.39 (9), p.1208-1215 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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6
Software Development in Startup Companies: The Greenfield Startup Model
Software Development in Startup Companies: The Greenfield Startup Model
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Software Development in Startup Companies: The Greenfield Startup Model

Giardino, Carmine ; Paternoster, Nicolo ; Unterkalmsteiner, Michael ; Gorschek, Tony ; Abrahamsson, Pekka

IEEE transactions on software engineering, 2016-06, Vol.42 (6), p.585-604 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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7
A systematic review of systematic review process research in software engineering
A systematic review of systematic review process research in software engineering
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A systematic review of systematic review process research in software engineering

Kitchenham, Barbara ; Brereton, Pearl

Information and software technology, 2013-12, Vol.55 (12), p.2049-2075 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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8
The State of Practice in Model-Driven Engineering
The State of Practice in Model-Driven Engineering
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The State of Practice in Model-Driven Engineering

Whittle, Jon ; Hutchinson, John ; Rouncefield, Mark

IEEE software, 2014-05, Vol.31 (3), p.79-85 [Periódico revisado por pares]

Los Alamitos, CA: IEEE

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9
Evaluating Complexity, Code Churn, and Developer Activity Metrics as Indicators of Software Vulnerabilities
Evaluating Complexity, Code Churn, and Developer Activity Metrics as Indicators of Software Vulnerabilities
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Evaluating Complexity, Code Churn, and Developer Activity Metrics as Indicators of Software Vulnerabilities

Yonghee Shin ; Meneely, A. ; Williams, L. ; Osborne, J. A.

IEEE transactions on software engineering, 2011-11, Vol.37 (6), p.772-787 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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10
Researcher Bias: The Use of Machine Learning in Software Defect Prediction
Researcher Bias: The Use of Machine Learning in Software Defect Prediction
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Researcher Bias: The Use of Machine Learning in Software Defect Prediction

Shepperd, Martin ; Bowes, David ; Hall, Tracy

IEEE transactions on software engineering, 2014-06, Vol.40 (6), p.603-616 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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