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1	Material Type: Artigo		Recent Advances in Electron Crystallography Chung, Jeong Min ; Lee, Sangmin ; Jung, Hyun Suk Applied microscopy, 2017, Vol.47 (3), p.160-164 [Periódico revisado por pares] Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
2	Material Type: Artigo		Molecular Structure of Muscle Filaments Determined by Electron Microscopy Craig, Roger Applied microscopy, 2017, Vol.47 (4), p.226-232 [Periódico revisado por pares] Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
3	Material Type: Artigo		Synthesis of Palladium Nanocubes/Nanorods and Their Catalytic Activity for Heck Reaction of Iodobenzene Ding, Hao ; Dong, Jiling Applied microscopy, 2016, Vol.46 (2), p.105-109 [Periódico revisado por pares] Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
4	$Phase Identification of Nano-Phase Materials using Convergent Beam Electron Diffraction (CBED) Technique$ $Phase Identification of Nano-Phase Materials using Convergent Beam Electron Diffraction (CBED) Technique$ Material Type: Artigo		Phase Identification of Nano-Phase Materials using Convergent Beam Electron Diffraction (CBED) Technique Gyeungho Kim ; Jae-Pyoung Ahn 한국현미경학회지, 2006, 36(2), , pp.47-56 [Periódico revisado por pares] 한국현미경학회 Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
5	Material Type: Artigo		Transmission Electron Microscopy Observation of Twin Variant Selection in Austenitic Twinning-Induced Plasticity Steel Han, Jung-Hoon ; Oh, Juhyun ; Yoon, Sangmoon ; Kim, Yanghoo ; Han, Heung Nam ; Kim, Miyoung Applied microscopy, 2016, Vol.46 (4), p.238-243 [Periódico revisado por pares] Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
6	$A Strategy for Phase Identification of Precipitates in High Al-containing Austenitic and Ferritic Steels Using Electron Diffraction$ $A Strategy for Phase Identification of Precipitates in High Al-containing Austenitic and Ferritic Steels Using Electron Diffraction$ Material Type: Artigo		A Strategy for Phase Identification of Precipitates in High Al-containing Austenitic and Ferritic Steels Using Electron Diffraction Heo, Yoon-Uk Applied microscopy, 2014, Vol.44 (4), p.144-149 [Periódico revisado por pares] Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
7	Material Type: Artigo		Microstructural Evolution of X20CrMoV12.1 Steel upon Short-term Creep Rupture Test Hino, Mariko ; He, Yinsheng ; Li, Kejian ; Chang, Jungchel ; Shin, Keesam Applied microscopy, 2013, Vol.43 (4), p.164-172 [Periódico revisado por pares] Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
8	Material Type: Artigo		Atomic structure and crystallography of joints in SnO 2 nanowire networks Hrkac, Viktor ; Wolff, Niklas ; Duppel, Viola ; Paulowicz, Ingo ; Adelung, Rainer ; Mishra, Yogendra Kumar ; Kienle, Lorenz Applied microscopy, 2019, Vol.49 (49), p.1.1-1.10 [Periódico revisado por pares] Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
9	$Sensitivity of quantitative symmetry measurement algorithms for convergent beam electron diffraction technique$ $Sensitivity of quantitative symmetry measurement algorithms for convergent beam electron diffraction technique$ Material Type: Artigo		Sensitivity of quantitative symmetry measurement algorithms for convergent beam electron diffraction technique Hyeongsub So ; Ro Woon Lee ; Sung Taek Hong ; Kyou-Hyun Kim Applied microscopy, 2021, Vol.51 (1), p.10.1-10.9 [Periódico revisado por pares] Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
10	Material Type: Artigo		Three-Dimensional Automated Crystal Orientation and Phase Mapping Analysis of Epitaxially Grown Thin Film Interfaces by Using Transmission Electron Microscopy Kim, Chang-Yeon ; Lee, Ji-Hyun ; Yoo, Seung Jo ; Lee, Seok-Hoon ; Kim, Jin-Gyu Applied microscopy, 2015, Vol.45 (3), p.183-188 [Periódico revisado por pares] Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por

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