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Estudo de algoritmos e programação de computadores para resolver problemas de matemática no Ensino Médio
Estudo de algoritmos e programação de computadores para resolver problemas de matemática no Ensino Médio
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Dissertação de Mestrado 		Adicionar ao Meu Espaço

Estudo de algoritmos e programação de computadores para resolver problemas de matemática no Ensino Médio

Elias, Juliana Perpetua

Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da USP; Universidade de São Paulo; Instituto de Ciências Matemáticas e de Computação 2019-08-05

Acesso online. A biblioteca também possui exemplares impressos.

2
DeepLocalize: Fault Localization for Deep Neural Networks
DeepLocalize: Fault Localization for Deep Neural Networks
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Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

DeepLocalize: Fault Localization for Deep Neural Networks

Wardat, Mohammad ; Le, Wei ; Rajan, Hridesh

2021 IEEE/ACM 43rd International Conference on Software Engineering (ICSE), 2021, p.251-262

IEEE

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3
Monitoring Metric First-Order Temporal Properties
Monitoring Metric First-Order Temporal Properties
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Monitoring Metric First-Order Temporal Properties

Basin, David ; Klaedtke, Felix ; Müller, Samuel ; Zălinescu, Eugen

Journal of the ACM, 2015-05, Vol.62 (2), p.1-45, Article 15 [Periódico revisado por pares]

New York, NY, USA: ACM

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4
Software reusability metrics estimation: Algorithms, models and optimization techniques
Software reusability metrics estimation: Algorithms, models and optimization techniques
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Software reusability metrics estimation: Algorithms, models and optimization techniques

Padhy, Neelamdhab ; Singh, R.P. ; Satapathy, Suresh Chandra

Computers & electrical engineering, 2018-07, Vol.69, p.653-668 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier Ltd

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5
The Secret Life of Software Vulnerabilities: A Large-Scale Empirical Study
The Secret Life of Software Vulnerabilities: A Large-Scale Empirical Study
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

The Secret Life of Software Vulnerabilities: A Large-Scale Empirical Study

Iannone, Emanuele ; Guadagni, Roberta ; Ferrucci, Filomena ; De Lucia, Andrea ; Palomba, Fabio

IEEE transactions on software engineering, 2023-01, Vol.49 (1), p.44-63 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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6
A Fast Clustering Algorithm for Modularization of Large-Scale Software Systems
A Fast Clustering Algorithm for Modularization of Large-Scale Software Systems
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

A Fast Clustering Algorithm for Modularization of Large-Scale Software Systems

Teymourian, Navid ; Izadkhah, Habib ; Isazadeh, Ayaz

IEEE transactions on software engineering, 2022-04, Vol.48 (4), p.1451-1462 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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7
Agile: The Good, the Hype and the Ugly
Agile: The Good, the Hype and the Ugly
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Livro 		Adicionar ao Meu Espaço

Agile: The Good, the Hype and the Ugly

Meyer, Bertrand

Cham: Springer International Publishing AG 2014

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8
Change Distilling:Tree Differencing for Fine-Grained Source Code Change Extraction
Change Distilling:Tree Differencing for Fine-Grained Source Code Change Extraction
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Change Distilling:Tree Differencing for Fine-Grained Source Code Change Extraction

Fluri, Beat ; Wursch, Michael ; PInzger, Martin ; Gall, Harald

IEEE transactions on software engineering, 2007-11, Vol.33 (11), p.725-743 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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9
An Empirical Study of Model-Agnostic Techniques for Defect Prediction Models
An Empirical Study of Model-Agnostic Techniques for Defect Prediction Models
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

An Empirical Study of Model-Agnostic Techniques for Defect Prediction Models

Jiarpakdee, Jirayus ; Tantithamthavorn, Chakkrit Kla ; Dam, Hoa Khanh ; Grundy, John

IEEE transactions on software engineering, 2022-01, Vol.48 (1), p.166-185 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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10
Toward an understanding of bug fix patterns
Toward an understanding of bug fix patterns
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Toward an understanding of bug fix patterns

Pan, Kai ; Kim, Sunghun ; Whitehead, E. James

Empirical software engineering : an international journal, 2009-06, Vol.14 (3), p.286-315 [Periódico revisado por pares]

Boston: Springer US

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  2. Elias, J  (1)
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  1. Multimedia Tools And Applications  (6.161)
  2. Arxiv.Org  (4.783)
  3. Bioinformatics  (3.538)
  4. Bmc Bioinformatics  (2.211)
  5. Algorithmica  (2.116)
  6. Plos One  (2.040)
  7. Arxiv  (1.874)
  8. Concurrency And Computation  (1.653)
  9. The Visual Computer  (1.386)
  10. Sensors  (1.338)
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  1. Andretta, M
  2. Elias, J

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  2. Algorithms
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