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1
The Reliability of Linear Feature Extractors
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Artigo
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The Reliability of Linear Feature Extractors

Young, T.Y.

IEEE transactions on computers, 1971-01, Vol.C-20 (9), p.967-971 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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2
An Efficient Algorithm for Generating Complete Test Sets for Combinational Logic Circuits
Material Type:
Artigo
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An Efficient Algorithm for Generating Complete Test Sets for Combinational Logic Circuits

Yau, S.S. ; Yu-Shan Tang

IEEE transactions on computers, 1971-01, Vol.C-20 (11), p.1245-1251 [Periódico revisado por pares]

IEEE

Texto completo disponível

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