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1
Most Tensor Problems Are NP-Hard
Most Tensor Problems Are NP-Hard
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Most Tensor Problems Are NP-Hard

Hillar, Christopher J ; Lim, Lek-Heng

Journal of the ACM, 2013-11, Vol.60 (6), p.1-39 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: ACM

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2
Linear-Time Approximation for Maximum Weight Matching
Linear-Time Approximation for Maximum Weight Matching
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Linear-Time Approximation for Maximum Weight Matching

Duan, Ran ; Pettie, Seth

Journal of the ACM, 2014-01, Vol.61 (1), p.1-23 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: ACM

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3
Static Architecture-Conformance Checking: An Illustrative Overview
Static Architecture-Conformance Checking: An Illustrative Overview
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Static Architecture-Conformance Checking: An Illustrative Overview

Passos, L ; Terra, R ; Valente, M T ; Diniz, R ; Mendonça, N

IEEE software, 2010-09, Vol.27 (5), p.82-89 [Periódico revisado por pares]

Los Alamitos, CA: IEEE

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4
On the (im)possibility of obfuscating programs
On the (im)possibility of obfuscating programs
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

On the (im)possibility of obfuscating programs

Barak, Boaz ; Goldreich, Oded ; Impagliazzo, Russell ; Rudich, Steven ; Sahai, Amit ; Vadhan, Salil ; Yang, Ke

Journal of the ACM, 2012-04, Vol.59 (2), p.1-48 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: ACM

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5
Steiner Tree Approximation via Iterative Randomized Rounding
Steiner Tree Approximation via Iterative Randomized Rounding
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Steiner Tree Approximation via Iterative Randomized Rounding

Byrka, Jarosław ; Grandoni, Fabrizio ; Rothvoss, Thomas ; Sanità, Laura

Journal of the ACM, 2013-02, Vol.60 (1), p.1-33 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: ACM

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6
Architectural Mismatch: Why Reuse Is Still So Hard
Architectural Mismatch: Why Reuse Is Still So Hard
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Architectural Mismatch: Why Reuse Is Still So Hard

Garlan, D. ; Allen, R. ; Ockerbloom, J.

IEEE software, 2009-07, Vol.26 (4), p.66-69 [Periódico revisado por pares]

Los Alamitos, CA: IEEE

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7
Testing first-order properties for subclasses of sparse graphs
Testing first-order properties for subclasses of sparse graphs
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Testing first-order properties for subclasses of sparse graphs

Dvořák, Zdeněk ; Král, Daniel ; Thomas, Robin

Journal of the ACM, 2013-10, Vol.60 (5), p.1-24 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: ACM

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8
Testing Closeness of Discrete Distributions
Testing Closeness of Discrete Distributions
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Testing Closeness of Discrete Distributions

Batu, Tuğkan ; Fortnow, Lance ; Rubinfeld, Ronitt ; Smith, Warren D ; White, Patrick

Journal of the ACM, 2013-02, Vol.60 (1), p.1-25 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: ACM

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9
A measure & conquer approach for the analysis of exact algorithms
A measure & conquer approach for the analysis of exact algorithms
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

A measure & conquer approach for the analysis of exact algorithms

Fomin, Fedor ; Grandoni, Fabrizio ; Kratsch, Dieter

Journal of the ACM, 2009-08, Vol.56 (5), p.1-32 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: ACM

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10
Compositional Shape Analysis by Means of Bi-Abduction
Compositional Shape Analysis by Means of Bi-Abduction
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Compositional Shape Analysis by Means of Bi-Abduction

Calcagno, Cristiano ; Distefano, Dino ; O'Hearn, Peter W ; Yang, Hongseok

Journal of the ACM, 2011-12, Vol.58 (6), p.1-66 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: ACM

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