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Graphene Visualizes the First Water Adlayers on Mica at Ambient Conditions
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Graphene Visualizes the First Water Adlayers on Mica at Ambient Conditions

Xu, Ke ; Cao, Peigen ; Heath, James R

Science (American Association for the Advancement of Science), 2010-09, Vol.329 (5996), p.1188-1191 [Periódico revisado por pares]

Washington, DC: American Association for the Advancement of Science

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2
X-ray photoelectron spectroscopic chemical state quantification of mixed nickel metal, oxide and hydroxide systems
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X-ray photoelectron spectroscopic chemical state quantification of mixed nickel metal, oxide and hydroxide systems

Biesinger, Mark C. ; Payne, Brad P. ; Lau, Leo W. M. ; Gerson, Andrea ; Smart, Roger St. C.

Surface and interface analysis, 2009-04, Vol.41 (4), p.324-332 [Periódico revisado por pares]

Chichester, UK: John Wiley & Sons, Ltd

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3
Thin film thickness measurements using Scanning White Light Interferometry
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Thin film thickness measurements using Scanning White Light Interferometry

Maniscalco, B. ; Kaminski, P.M. ; Walls, J.M.

Thin solid films, 2014-01, Vol.550, p.10-16 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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4
Impact of layer thickness on the ferroelectric behaviour of silicon doped hafnium oxide thin films
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Impact of layer thickness on the ferroelectric behaviour of silicon doped hafnium oxide thin films

Yurchuk, Ekaterina ; Müller, Johannes ; Knebel, Steve ; Sundqvist, Jonas ; Graham, Andrew P. ; Melde, Thomas ; Schröder, Uwe ; Mikolajick, Thomas

Thin solid films, 2013-04, Vol.533, p.88-92 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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5
Role of film thickness on the properties of ZnO thin films grown by sol-gel method
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Role of film thickness on the properties of ZnO thin films grown by sol-gel method

Kumar, Vinod ; Singh, Neetu ; Mehra, R.M. ; Kapoor, Avinashi ; Purohit, L.P. ; Swart, H.C.

Thin solid films, 2013-07, Vol.539, p.161-165 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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6
Effect of the seed layer thickness on the stability of ZnO nanorod arrays
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Effect of the seed layer thickness on the stability of ZnO nanorod arrays

İkizler, Berrin ; Peker, Sümer M.

Thin solid films, 2014-05, Vol.558, p.149-159 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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7
Mechanical characterization of LiPON films using nanoindentation
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Mechanical characterization of LiPON films using nanoindentation

Herbert, E.G. ; Tenhaeff, W.E. ; Dudney, N.J. ; Pharr, G.M.

Thin solid films, 2011-10, Vol.520 (1), p.413-418 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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8
Study of polycrystalline Cu2ZnSnS4 films by Raman scattering
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Study of polycrystalline Cu2ZnSnS4 films by Raman scattering

FERNANDES, P. A ; SALOME, P. M. P ; DA CUNHA, A. F

Journal of alloys and compounds, 2011-07, Vol.509 (28), p.7600-7606 [Periódico revisado por pares]

Kidlington: Elsevier

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9
Magnetic properties and microstructure investigation of electrodeposited FeNi/ITO films with different thickness
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Magnetic properties and microstructure investigation of electrodeposited FeNi/ITO films with different thickness

Cao, Derang ; Wang, Zhenkun ; Feng, Erxi ; Wei, Jinwu ; Wang, Jianbo ; Liu, Qingfang

Journal of alloys and compounds, 2013-12, Vol.581, p.66-70 [Periódico revisado por pares]

Kidlington: Elsevier B.V

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10
Thickness-dependent photocatalytic performance of nanocrystalline TiO2 thin films prepared by sol–gel spin coating
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Thickness-dependent photocatalytic performance of nanocrystalline TiO2 thin films prepared by sol–gel spin coating

Wu, Chung-Yi ; Lee, Yuan-Ling ; Lo, Yu-Shiu ; Lin, Chen-Jui ; Wu, Chien-Hou

Applied surface science, 2013-09, Vol.280, p.737-744 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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