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Electroluminescence and Transmission Electron Microscopy Characterization of Reverse-Biased AlGaN/GaN Devices
Electroluminescence and Transmission Electron Microscopy Characterization of Reverse-Biased AlGaN/GaN Devices
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Electroluminescence and Transmission Electron Microscopy Characterization of Reverse-Biased AlGaN/GaN Devices

Cullen, D. A. ; Smith, D. J. ; Passaseo, A. ; Tasco, V. ; Stocco, A. ; Meneghini, M. ; Meneghesso, G. ; Zanoni, E.

IEEE transactions on device and materials reliability, 2013-03, Vol.13 (1), p.126-135 [Periódico revisado por pares]

United States: IEEE

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Structural Context of the Massive Ultrafine Fault Rocks (possible pseudotachylytes) at Kodiak Island, Alaska, USA
Structural Context of the Massive Ultrafine Fault Rocks (possible pseudotachylytes) at Kodiak Island, Alaska, USA
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Structural Context of the Massive Ultrafine Fault Rocks (possible pseudotachylytes) at Kodiak Island, Alaska, USA

Rowe, C D ; Moore, J ; Meneghini, F ; Yamaguchi, A ; Tsutsumi, A

Eos (Washington, D.C.), 2006-12, Vol.87 (52)

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Evolution of Seismogenic Subduction Thrusts
Evolution of Seismogenic Subduction Thrusts
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Evolution of Seismogenic Subduction Thrusts

Moore, J C ; Rowe, C D ; Meneghini, F ; Yamaguchi, A ; Tsutsumi, A

Eos (Washington, D.C.), 2006-12, Vol.87 (52)

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4
Pat on the back
Pat on the back
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Pat on the back

Marks, Michael R ; Meneghini, R. Michael ; Silverman, Barry J

AAOS now, 2015-06, p.53

American Academy of Orthopaedic Surgeons

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  • Realização: ABCD-USP USP   Logos de Redes Sociais: Freepik

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