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1
Stepping back
Stepping back
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Stepping back

Riggs, David E

Journal of environmental health, 2017-06, Vol.79 (10), p.6 [Periódico revisado por pares]

Denver: National Environmental Health Association

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2
Smart ventilation
Smart ventilation
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magazinearticle 		Adicionar ao Meu Espaço

Smart ventilation

Easton, Peter

Mechanical engineering (New York, N.Y. 1919), 2007-12, Vol.129 (12), p.18

New York: American Society of Mechanical Engineers

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3
Elevator suspension standard
Elevator suspension standard
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magazinearticle 		Adicionar ao Meu Espaço

Elevator suspension standard

Mechanical engineering (New York, N.Y. 1919), 2010-11, Vol.132 (11), p.12

New York: American Society of Mechanical Engineers

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4
Data breach remediation lags
Data breach remediation lags
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Data breach remediation lags

Communications News, 2007-07, Vol.44 (7), p.6-6

Nokomis: Nelson Publishing

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5
Innovation (and Google)
Innovation (and Google)
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magazinearticle 		Adicionar ao Meu Espaço

Innovation (and Google)

Falcioni, John G

Mechanical engineering (New York, N.Y. 1919), 2006-12, Vol.128 (12), p.4

New York: American Society of Mechanical Engineers

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6
Why STEM Education--and Democracy--Need Civic Science: Science and technology programs should prepare students for public engagement
Why STEM Education--and Democracy--Need Civic Science: Science and technology programs should prepare students for public engagement
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Why STEM Education--and Democracy--Need Civic Science: Science and technology programs should prepare students for public engagement

Ross, Christian H ; Fried, Samantha Jo

American scientist, 2023-05, Vol.111 (3), p.156

Sigma Xi, The Scientific Research Society

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7
Insight into Cellular Uptake and Intracellular Trafficking of Nanoparticles
Insight into Cellular Uptake and Intracellular Trafficking of Nanoparticles
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Insight into Cellular Uptake and Intracellular Trafficking of Nanoparticles

Foroozandeh, Parisa ; Aziz, Azlan Abdul

Nanoscale research letters, 2018-10, Vol.13 (1), p.339-12, Article 339 [Periódico revisado por pares]

New York: Springer US

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8
Dependence of Nanoparticle Toxicity on Their Physical and Chemical Properties
Dependence of Nanoparticle Toxicity on Their Physical and Chemical Properties
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Dependence of Nanoparticle Toxicity on Their Physical and Chemical Properties

Sukhanova, Alyona ; Bozrova, Svetlana ; Sokolov, Pavel ; Berestovoy, Mikhail ; Karaulov, Alexander ; Nabiev, Igor

Nanoscale research letters, 2018-02, Vol.13 (1), p.44-21, Article 44 [Periódico revisado por pares]

New York: Springer US

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9
Resistive Random Access Memory (RRAM): an Overview of Materials, Switching Mechanism, Performance, Multilevel Cell (mlc) Storage, Modeling, and Applications
Resistive Random Access Memory (RRAM): an Overview of Materials, Switching Mechanism, Performance, Multilevel Cell (mlc) Storage, Modeling, and Applications
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Resistive Random Access Memory (RRAM): an Overview of Materials, Switching Mechanism, Performance, Multilevel Cell (mlc) Storage, Modeling, and Applications

Zahoor, Furqan ; Azni Zulkifli, Tun Zainal ; Khanday, Farooq Ahmad

Nanoscale research letters, 2020-04, Vol.15 (1), p.90-90, Article 90 [Periódico revisado por pares]

New York: Springer US

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10
Nanoparticles for Cancer Therapy: Current Progress and Challenges
Nanoparticles for Cancer Therapy: Current Progress and Challenges
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Nanoparticles for Cancer Therapy: Current Progress and Challenges

Gavas, Shreelaxmi ; Quazi, Sameer ; Karpiński, Tomasz M.

Nanoscale research letters, 2021-12, Vol.16 (1), p.173-21, Article 173 [Periódico revisado por pares]

New York: Springer US

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Nome da Publicação 

  1. New Scientist  (81.171)
  2. Eweek  (53.409)
  3. Journal Of Materials Science  (48.050)
  4. Computer Weekly  (43.636)
  5. Computerworld  (40.120)
  6. Network World  (32.513)
  7. Infoworld  (26.349)
  8. Information Today  (24.376)
  9. Machine Design  (23.972)
  10. Pc World  (21.007)
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  • Realização: ABCD-USP USP   Logos de Redes Sociais: Freepik

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