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Destructive single-event effects in semiconductor devices
Destructive single-event effects in semiconductor devices
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Artigo de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Destructive single-event effects in semiconductor devices

Saulo Gabriel Pereira Nascimento Alberton Nilberto Heder Medina; Nemitala Added; Ricardo Menegasso; Eduardo Luiz Augusto Macchione; Vitor Ângelo Paulino de Aguiar; Roberto Vicençotto Ribas; Escola de Verão Jorge André Swieca Física Nuclear Teórica (19th 2019 Campos de Jordão, SP)

Abstracts São Paulo: SBF, 2019

São Paulo SBF 2019

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2
Lifetime measurements in odd and odd-odd nuclei
Lifetime measurements in odd and odd-odd nuclei
Material Type:
Artigo de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Lifetime measurements in odd and odd-odd nuclei

R. Escudeiro Nilberto Heder Medina; José Roberto Brandão de Oliveira; Paula Rangel Pestana Allegro; J. A. A Núñez; Roberto Vicençotto Ribas; Nemitala Added; Vitor Ângelo Paulino de Aguiar; Eduardo Luiz Augusto Macchione; Valdir Brunetti Scarduelli; Saulo Gabriel Pereira Nascimento Alberton; Brazilian Meeting on Nuclear Physics (XLI. 2018 São Sebastião)

Resumos Maresias, São Sebastião, SP, 2018

São Paulo 2018

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3
Passivation layer and charge collection depth in electronic devices
Passivation layer and charge collection depth in electronic devices
Material Type:
Artigo de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Passivation layer and charge collection depth in electronic devices

Vitor Ângelo Paulino de Aguiar Nilberto Heder Medina; Nemitala Added; Eduardo Luiz Augusto Macchione; Alisson Rodolfo Leite; Tiago Fiorini da Silva; Cleber Lima Rodrigues; Rafael Escudeiro; Paula Rangel Pestana Allegro; Hellen Cristine dos Santos; Saulo Gabriel Pereira Nascimento Alberton; Valdir Brunetti Scarduelli; Marcilei Aparecida Guazzelli da Silveira; M A A de Melo; R B B Santos; Renato Giacomini; J A Oliveira; F G H Leite; Brazilian Meeting on Nuclear Physics (41th 2018 Maresias, São Sebastião, SP)

Abstracts São Paulo: SBF, 2018

São Paulo SBF 2018

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4
Brazilian facilities to study radiation effects in electronic devices
Brazilian facilities to study radiation effects in electronic devices
Material Type:
Artigo de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Brazilian facilities to study radiation effects in electronic devices

Nilberto H. Medina Marcilei Aparecida Guazzelli; Nemitala Added; Vitor Ângelo Paulino de Aguiar; F Aguirre; R Giacomini; Eduardo Luiz Augusto Macchione; M. A. A Melo; J. A Oliveira; R. B. B Santos; L. E Seixas; Manfredo Tabacniks; European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems (RADECS) 23 a 27 de setembro de 2013 Oxford, Inglaterra

IEEE Xplore New York: IEEE, 2013 07p., Proc. RADECS 2013, Proceedings Paper

New York 2013

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5
Preliminary TID and SEU effects on an ARM COTS processor
Preliminary TID and SEU effects on an ARM COTS processor
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Artigo de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Preliminary TID and SEU effects on an ARM COTS processor

Marcilei Aparecida Guazzelli da Silveira F G H Leite; R B B Santos; Vitor Ângelo Paulino de Aguiar; Nemitala Added; Fernando Rodrigues Aguirre; Eduardo Luiz Augusto Macchione; R C Giacomini; Fabian Vargas; Nilberto Heder Medina; Encontro de Física 2016 Natal, RN; Workshop on Nuclear Physics in Brazil 2016 Natal, RN, Brasil) (39

Oral Session - Resumo São Paulo : SBF, 2016

São Paulo SBF 2016

Acesso online

6
Charge deposition analysis of heavy-ion-induced single-event burnout in low-voltage power VDMOSFET
Charge deposition analysis of heavy-ion-induced single-event burnout in low-voltage power VDMOSFET
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Charge deposition analysis of heavy-ion-induced single-event burnout in low-voltage power VDMOSFET

S. G. Alberton Vitor Ângelo Paulino de Aguiar; Nilberto H Medina; Nemitala Added; E L A Macchione; R Menegasso; G. J Cesário; Hellen Cristine Santos; V B Scarduelli; J. A Alcántara-Núñez; M. A Guazzelli; R. B. B Santos; D Flechas

Microelectronics Reliability Amsterdam: Elsevier, 2022 v. 137, 21 de setembro de 2022, número do artigo: 114784, online

Amsterdam 2022

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7
Ionizing Radiation Effects on a COTS LowCost RISC Microcontroller
Ionizing Radiation Effects on a COTS LowCost RISC Microcontroller
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Artigo de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Ionizing Radiation Effects on a COTS LowCost RISC Microcontroller

Felipe G H Leite Roberto B B Santos; Nilberto Heder Medina; Vitor Ângelo Paulino de Aguiar; Renato Camargo Giacomini; Nemitala Added; Fernando Aguirre; Eduardo Luiz Augusto Macchione; Fabian Vargas; Marcilei Aparecida Guazzelli da Silveira; IEEE Latin American Test Symposium (LATS) 2017 Bogota, Colombia) (18th

IEEE Xplore Conference publications New York v. 2017, p. 1-5, 2017

New York IEEE 2017

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8
Experimental setup for single event effects at the são paulo 8UD pelletron accelerator
Experimental setup for single event effects at the são paulo 8UD pelletron accelerator
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Artigo de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Experimental setup for single event effects at the são paulo 8UD pelletron accelerator

Vitor Ângelo Paulino de Aguiar M. A. G Silveira; R. B. B Santos; L. E Seixas Jr.; Fernando Rodrigues Aguirre; Eduardo Luiz Augusto Macchione; Nilberto Heder Medina; Nemitala Added; Manfredo Harri Tabacniks; International Conference on Ion Beam Analysis (IBA) (21. 2014 Seattle, WA)

NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS Amsterdam v. 332, p. 397-400, aug. 2014

Amsterdam 2014

Acesso online

9
Facilities for heavy-ion irradiation of electronic devices in brazil
Facilities for heavy-ion irradiation of electronic devices in brazil
Material Type:
Artigo de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Facilities for heavy-ion irradiation of electronic devices in brazil

Vitor Ângelo Paulino de Aguiar Eduardo Luiz Augusto Macchione; Celso Claudio Perego; M.A.G Silveira; R. B Santos; L. E Seixas; Nilberto Heder Medina; Nemitala Added; Manfredo Harri Tabacniks; Reunião de Trabalho sobre Física Nuclear no Brasil (XXXVI 2013 Maresias, SP)

SBF Resumos

Maresias SBF 2013

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10
Single event effects studies on 3N163 MOSFET
Single event effects studies on 3N163 MOSFET
Material Type:
Artigo de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Single event effects studies on 3N163 MOSFET

Vitor Ângelo Paulino de Aguiar L.E Seixas Jr; M.A.G Silveira; R.B Santos; M.A.A Melo; R Giacomini; F.G Leite; F.G Cunha; J.A Oliveira; A Rallo; Eduardo Luiz Augusto Macchione; Fernando Rodrigues Aguirre; Nilberto Heder Medina; Nemitala Added; Reunião de Trabalho sobre Física Nuclear no Brasil (37 2014 Maresias, São Paulo)

SBF São Paulo: Sociedade Brasileira de Física(2014)

São Paulo 2014

Acesso online

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Deste Autor:

  1. Macchione, E
  2. Aguiar, V
  3. Medina, N
  4. Added, N
  5. Scarduelli, V

Neste Assunto:

  1. Física Nuclear
  2. Íons Pesados
  3. Radiação Ionizante
  4. Acelerador De Partículas
  5. Reações Nucleares

  • Realização: ABCD-USP USP   Logos de Redes Sociais: Freepik

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