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1
Material Type:
Dissertação de Mestrado
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Cristalização induzida por níquel em filmes de silício amorfo

Ferri, Fabio Aparecido

Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da USP; Universidade de São Paulo; Instituto de Física de São Carlos 2007-02-12

Acesso online. A biblioteca também possui exemplares impressos.

2
Material Type:
Tese de Doutorado
Adicionar ao Meu Espaço

Microcavidades ópticas à base de silício: projeto, confecção e propriedades

Gallo, Ivan Braga

Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da USP; Universidade de São Paulo; Instituto de Física de São Carlos 2014-09-26

Acesso online. A biblioteca também possui exemplares impressos.

3
Material Type:
Tese (Outras)
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Filmes semicondutores amorfos a base de Si

Antonio Ricardo Zanatta

2011

Localização: IFSC - Inst. Física de São Carlos    (Te2129 )(Acessar)

4
Material Type:
Dissertação de Mestrado
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Propriedades ópticas de filmes finos de silício amorfo hidrogenado dopados com érbio

Oliveira, Victor Inacio De

Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da USP; Universidade de São Paulo; Instituto de Física de São Carlos 2005-09-20

Acesso online. A biblioteca também possui exemplares impressos.

5
Material Type:
Artigo de Congresso
Adicionar ao Meu Espaço

Determinação númerica da espessura e das constantes ópticas de filmes de silício amorfo dopados com níquel através de espectroscopia de transmissão

F. A. Ferri Antonio Ricardo Zanatta; Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada - ENFMC (30. 2007 São Lourenço)

Resumos São Paulo : Sociedade Brasileira de Física, 2007

São Paulo Sociedade Brasileira de Física 2007

Localização: IFSC - Inst. Física de São Carlos    (PROD013921 ) e outros locais(Acessar)

6
Material Type:
Artigo de Congresso
Adicionar ao Meu Espaço

Cristalização e stress devidos à presença de níquel em filmes de silício amorfo

F. A. Ferri Antonio Ricardo Zanatta; Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada - ENFMC (31. 2008 Águas de Lindóia)

Resumos São Paulo : Sociedade Brasileira de Física, 2008

São Paulo Sociedade Brasileira de Física 2008

Acesso online. A biblioteca também possui exemplares impressos.

7
Material Type:
Artigo de Congresso
Adicionar ao Meu Espaço

Determinação numérica da espessura e das constantes ópticas de filmes de silício amorfo dopados com níquel através de espectroscopia de transmissão

Fabio Aparecido Ferri Antonio Ricardo Zanatta; Workshop da Pós-Graduação do IFSC (11. 2007 São Carlos)

Livro de Resumos São Carlos : Instituto de Física de São Carlos - USP, 2007

São Carlos Instituto de Física de São Carlos - USP 2007

Localização: IFSC - Inst. Física de São Carlos    (PROD014218 ) e outros locais(Acessar)

8
Material Type:
Artigo de Congresso
Adicionar ao Meu Espaço

Filmes de silício amorfo dopados com níquel

Fabio Aparecido Ferri Antonio Ricardo Zanatta; Workshop da Pós-Graduação do IFSC (9. 2005 São Carlos)

Caderno de Resumos São Carlos : Instituto de Física de São Carlos - USP, 2005

São Carlos Instituto de Física de São Carlos - USP 2005

Localização: IFSC - Inst. Física de São Carlos    (PROD011389 ) e outros locais(Acessar)

9
Material Type:
Artigo de Congresso
Adicionar ao Meu Espaço

Propriedades ópticas e estruturais de filmes de a-Si:H dopados com Er, Yb e Cr

Victor I. Oliveira Antonio Ricardo Zanatta; Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada - ENFMC (28. 2005 Santos)

Resumos São Paulo : Sociedade Brasileira de Física, 2005

São Paulo Sociedade Brasileira de Física 2005

Localização: IFSC - Inst. Física de São Carlos    (PROD011078 ) e outros locais(Acessar)

10
Material Type:
Artigo de Congresso
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The metal-induced crystallization of amorphous Si and Ge thin films fundamentals and advancements

Antonio Ricardo Zanatta Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada (35. 2012 Águas de Lindóia)

Resumos São Paulo : Sociedade Brasileira de Física - SBF, 2012

São Paulo Sociedade Brasileira de Física - SBF 2012

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