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1
Influence of curing temperature on the evolution of magnesium oxychloride cement
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Artigo
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Influence of curing temperature on the evolution of magnesium oxychloride cement

Sglavo, Vincenzo M. ; De Genua, Francesca ; Conci, Alexia ; Ceccato, Riccardo ; Cavallini, Roberto

Journal of materials science, 2011-10, Vol.46 (20), p.6726-6733 [Periódico revisado por pares]

New York: Springer US

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2
Electrical Characterization of High Energy Electron Irradiated Ni/4H-SiC Schottky Barrier Diodes
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Artigo
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Electrical Characterization of High Energy Electron Irradiated Ni/4H-SiC Schottky Barrier Diodes

Paradzah, A. T. ; Omotoso, E. ; Legodi, M. J. ; Auret, F. D. ; Meyer, W. E. ; Diale, M.

Journal of electronic materials, 2016-08, Vol.45 (8), p.4177-4182 [Periódico revisado por pares]

New York: Springer US

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3
Fungal formation of selenium and tellurium nanoparticles
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Artigo
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Fungal formation of selenium and tellurium nanoparticles

Liang, Xinjin ; Perez, Magali Aude Marie-Jeanne ; Nwoko, Kenneth Chinedu ; Egbers, Philipp ; Feldmann, Joerg ; Csetenyi, Laszlo ; Gadd, Geoffrey M.

Applied microbiology and biotechnology, 2019-09, Vol.103 (17), p.7241-7259 [Periódico revisado por pares]

Berlin/Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg

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4
Characterization of AlInN/AlN/GaN Heterostructures with Different AlN Buffer Thickness
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Artigo
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Characterization of AlInN/AlN/GaN Heterostructures with Different AlN Buffer Thickness

Çörekçi, S. ; Dugan, S. ; Öztürk, M. K. ; Çetin, S. Ş. ; Çakmak, M. ; Özçelik, S. ; Özbay, E.

Journal of electronic materials, 2016-07, Vol.45 (7), p.3278-3284 [Periódico revisado por pares]

New York: Springer US

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5
FIB micro-milled sapphire for GaN maskless epitaxial lateral overgrowth: a systematic study on patterning geometry
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Artigo
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FIB micro-milled sapphire for GaN maskless epitaxial lateral overgrowth: a systematic study on patterning geometry

Jelmakas, E. ; Kadys, A. ; Dmukauskas, M. ; Grinys, T. ; Tomašiūnas, R. ; Dobrovolskas, D. ; Gervinskas, G. ; Juodkazis, S. ; Talaikis, M. ; Niaura, G.

Journal of materials science. Materials in electronics, 2021-06, Vol.32 (11), p.14532-14541 [Periódico revisado por pares]

New York: Springer US

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6
The role of electrical property in determining the response of 20H-80S composite thin films fabricated for biological applications
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The role of electrical property in determining the response of 20H-80S composite thin films fabricated for biological applications

Das, Apurba ; Rabha, Susmita ; Saxena, Varun ; Bhardwaj, Aman ; Pandey, Lalit M. ; Emmanuel, K. A. ; Dobbidi, Pamu

Journal of materials science, 2022-07, Vol.57 (28), p.13586-13602 [Periódico revisado por pares]

New York: Springer US

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7
MobiGuide: a personalized and patient-centric decision-support system and its evaluation in the atrial fibrillation and gestational diabetes domains
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Artigo
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MobiGuide: a personalized and patient-centric decision-support system and its evaluation in the atrial fibrillation and gestational diabetes domains

Peleg, Mor ; Shahar, Yuval ; Quaglini, Silvana ; Fux, Adi ; García-Sáez, Gema ; Goldstein, Ayelet ; Hernando, M. Elena ; Klimov, Denis ; Martínez-Sarriegui, Iñaki ; Napolitano, Carlo ; Parimbelli, Enea ; Rigla, Mercedes ; Sacchi, Lucia ; Shalom, Erez ; Soffer, Pnina

User modeling and user-adapted interaction, 2017-06, Vol.27 (2), p.159-213 [Periódico revisado por pares]

Dordrecht: Springer Netherlands

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8
Effect of Gamma Radiation Induced on Structural, Electrical, and Optical Properties of N, N′-Dimethyl-3,4,9, 10-Perylenedicarboximide Nanostructure Films
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Effect of Gamma Radiation Induced on Structural, Electrical, and Optical Properties of N, N′-Dimethyl-3,4,9, 10-Perylenedicarboximide Nanostructure Films

Darwish, A. A. A. ; Qashou, Saleem I. ; Khattari, Z. ; Hawamdeh, Mustafa M. ; Aldrabee, Allayth ; Al Garni, S. E.

Journal of electronic materials, 2018-12, Vol.47 (12), p.7196-7203 [Periódico revisado por pares]

New York: Springer US

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9
Electron irradiation effects in Au thin films
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Artigo
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Electron irradiation effects in Au thin films

de Oliveira, Franciele S. M. ; Nogueira, Maurício J. ; Fabrim, Zacarias E. ; Fichtner, Paulo F. P.

Journal of materials science. Materials in electronics, 2021-05, Vol.32 (10), p.13291-13304 [Periódico revisado por pares]

New York: Springer US

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10
SiC Detector for Sub-MeV Alpha Spectrometry
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Artigo
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SiC Detector for Sub-MeV Alpha Spectrometry

Torrisi, L. ; Sciuto, A. ; Cannavò, A. ; Di Franco, S. ; Mazzillo, M. ; Badalà, P. ; Calcagno, L.

Journal of electronic materials, 2017-07, Vol.46 (7), p.4242-4249 [Periódico revisado por pares]

New York: Springer US

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