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A Context-Sensitive Nomadic Exhibition Guide
A Context-Sensitive Nomadic Exhibition Guide
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Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

A Context-Sensitive Nomadic Exhibition Guide

Oppermann, Reinhard ; Specht, Marcus Gellersen, Hans-Werner ; Thomas, Peter J.

Lecture notes in computer science, 2000, Vol.1927, p.127-142 [Periódico revisado por pares]

Berlin, Heidelberg: Springer-Verlag

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2
A fixed-parameter algorithm for minimum quartet inconsistency
A fixed-parameter algorithm for minimum quartet inconsistency
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

A fixed-parameter algorithm for minimum quartet inconsistency

Gramm, Jens ; Niedermeier, Rolf

Journal of computer and system sciences, 2003-12, Vol.67 (4), p.723-741 [Periódico revisado por pares]

Elsevier Inc

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3
Multi-task Learning for one-class classification
Multi-task Learning for one-class classification
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Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Multi-task Learning for one-class classification

Haiqin Yang ; King, Irwin ; Lyu, Michael R

The 2010 International Joint Conference on Neural Networks (IJCNN), 2010, p.1-8

IEEE

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4
Underfill delamination to chip sidewall in advanced flip chip packages
Underfill delamination to chip sidewall in advanced flip chip packages
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Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Underfill delamination to chip sidewall in advanced flip chip packages

Paquet, M.-C. ; Sylvestre, J. ; Gros, E. ; Boyer, N.

2009 59th Electronic Components and Technology Conference, 2009, p.960-965

IEEE

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5
Object Detection With Deep Learning: A Review
Object Detection With Deep Learning: A Review
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Object Detection With Deep Learning: A Review

Zhao, Zhong-Qiu ; Zheng, Peng ; Xu, Shou-Tao ; Wu, Xindong

IEEE transaction on neural networks and learning systems, 2019-11, Vol.30 (11), p.3212-3232

United States: IEEE

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6
AI Fairness 360: An extensible toolkit for detecting and mitigating algorithmic bias
AI Fairness 360: An extensible toolkit for detecting and mitigating algorithmic bias
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

AI Fairness 360: An extensible toolkit for detecting and mitigating algorithmic bias

Bellamy, R. K. E. ; Dey, K. ; Hind, M. ; Hoffman, S. C. ; Houde, S. ; Kannan, K. ; Lohia, P. ; Martino, J. ; Mehta, S. ; Mojsilovic, A. ; Nagar, S. ; Ramamurthy, K. Natesan ; Richards, J. ; Saha, D. ; Sattigeri, P. ; Singh, M. ; Varshney, K. R. ; Zhang, Y.

IBM journal of research and development, 2019-07, Vol.63 (4/5), p.4-4:15 [Periódico revisado por pares]

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A Survey of the Usages of Deep Learning for Natural Language Processing
A Survey of the Usages of Deep Learning for Natural Language Processing
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

A Survey of the Usages of Deep Learning for Natural Language Processing

Otter, Daniel W. ; Medina, Julian R. ; Kalita, Jugal K.

IEEE transaction on neural networks and learning systems, 2021-02, Vol.32 (2), p.604-624

United States: IEEE

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8
A Survey of Convolutional Neural Networks: Analysis, Applications, and Prospects
A Survey of Convolutional Neural Networks: Analysis, Applications, and Prospects
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

A Survey of Convolutional Neural Networks: Analysis, Applications, and Prospects

Li, Zewen ; Liu, Fan ; Yang, Wenjie ; Peng, Shouheng ; Zhou, Jun

IEEE transaction on neural networks and learning systems, 2022-12, Vol.33 (12), p.6999-7019

United States: IEEE

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9
A Comprehensive Survey on Graph Neural Networks
A Comprehensive Survey on Graph Neural Networks
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

A Comprehensive Survey on Graph Neural Networks

Wu, Zonghan ; Pan, Shirui ; Chen, Fengwen ; Long, Guodong ; Zhang, Chengqi ; Yu, Philip S.

IEEE transaction on neural networks and learning systems, 2021-01, Vol.32 (1), p.4-24

United States: IEEE

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10
Adversarial Examples: Attacks and Defenses for Deep Learning
Adversarial Examples: Attacks and Defenses for Deep Learning
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Adversarial Examples: Attacks and Defenses for Deep Learning

Yuan, Xiaoyong ; He, Pan ; Zhu, Qile ; Li, Xiaolin

IEEE transaction on neural networks and learning systems, 2019-09, Vol.30 (9), p.2805-2824

United States: IEEE

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