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1
LH-CAM: Logic-Based Higher Performance Binary CAM Architecture on FPGA
LH-CAM: Logic-Based Higher Performance Binary CAM Architecture on FPGA
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

LH-CAM: Logic-Based Higher Performance Binary CAM Architecture on FPGA

Ullah, Zahid

IEEE embedded systems letters, 2017-06, Vol.9 (2), p.29-32 [Periódico revisado por pares]

Piscataway: IEEE

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2
High Speed Partial Pattern Classification System Using a CAM-Based LBP Histogram on FPGA
High Speed Partial Pattern Classification System Using a CAM-Based LBP Histogram on FPGA
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

High Speed Partial Pattern Classification System Using a CAM-Based LBP Histogram on FPGA

Mujahid, Omer ; Ullah, Zahid

IEEE embedded systems letters, 2020-09, Vol.12 (3), p.87-90 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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3
DSCAM: Latency-Guaranteed and High-Capacity Content-Addressable Memory on FPGAs
DSCAM: Latency-Guaranteed and High-Capacity Content-Addressable Memory on FPGAs
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

DSCAM: Latency-Guaranteed and High-Capacity Content-Addressable Memory on FPGAs

Vakili, Shervin ; Zarei, Amirhossein

IEEE embedded systems letters, 2024-06, Vol.16 (2), p.182-185 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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4
Fast Content Updating Algorithm for an SRAM-Based TCAM on FPGA
Fast Content Updating Algorithm for an SRAM-Based TCAM on FPGA
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Fast Content Updating Algorithm for an SRAM-Based TCAM on FPGA

Syed, Farkhanda ; Ullah, Zahid ; Jaiswal, Manish K.

IEEE embedded systems letters, 2018-09, Vol.10 (3), p.73-76 [Periódico revisado por pares]

Piscataway: IEEE

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5
Accelerated Updating Mechanisms for FPGA-Based Ternary Content-Addressable Memory
Accelerated Updating Mechanisms for FPGA-Based Ternary Content-Addressable Memory
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Accelerated Updating Mechanisms for FPGA-Based Ternary Content-Addressable Memory

Irfan, Muhammad ; Ullah, Zahid ; Sanka, Abdurrashid I. ; Cheung, Ray C. C.

IEEE embedded systems letters, 2021-06, Vol.13 (2), p.37-40 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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6
Nvalt: Nonvolatile Approximate Lookup Table for GPU Acceleration
Nvalt: Nonvolatile Approximate Lookup Table for GPU Acceleration
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Nvalt: Nonvolatile Approximate Lookup Table for GPU Acceleration

Imani, Mohsen ; Peroni, Daniel ; Rosing, Tajana

IEEE embedded systems letters, 2018-03, Vol.10 (1), p.14-17 [Periódico revisado por pares]

Piscataway: IEEE

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7
One-transistor-cell 4-valued universal-literal CAM for cellular logic image processing
One-transistor-cell 4-valued universal-literal CAM for cellular logic image processing
Material Type:
Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

One-transistor-cell 4-valued universal-literal CAM for cellular logic image processing

Hanyu, T. ; Arakaki, M. ; Kameyama, M.

Proceedings 1997 27th International Symposium on Multiple- Valued Logic, 1997, p.175-180

IEEE

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8
An adaptive serial-parallel CAM architecture for low-power cache blocks
An adaptive serial-parallel CAM architecture for low-power cache blocks
Material Type:
Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

An adaptive serial-parallel CAM architecture for low-power cache blocks

Efthymiou, Aristides ; Garside, Jim D.

International Symposium on Low Power Electronics and Design: Proceedings of the 2002 international symposium on Low power electronics and design; 12-14 Aug. 2002, 2002, p.136-141

New York, NY, USA: ACM

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9
Fine-grain CAM-tag cache resizing using miss tags
Fine-grain CAM-tag cache resizing using miss tags
Material Type:
Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Fine-grain CAM-tag cache resizing using miss tags

Zhang, Michael ; Asanović, Krste

International Symposium on Low Power Electronics and Design: Proceedings of the 2002 international symposium on Low power electronics and design; 12-14 Aug. 2002, 2002, p.130-135

New York, NY, USA: ACM

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10
Model-based reliability analysis
Model-based reliability analysis
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Model-based reliability analysis

Bierbaum, R.L. ; Brown, T.D. ; Kerschen, T.J.

IEEE transactions on reliability, 2002-06, Vol.51 (2), p.133-140 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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