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Material Type: Artigo
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Thin films composed of gold nanoparticles dispersed in a dielectric matrix: The influence of the host matrix on the optical and mechanical responsesBorges, J. ; Rodrigues, M.S. ; Kubart, T. ; Kumar, S. ; Leifer, K. ; Evaristo, M. ; Cavaleiro, A. ; Apreutesei, M. ; Pereira, R.M.S. ; Vasilevskiy, M.I. ; Polcar, T. ; Vaz, F.Thin solid films, 2015-12, Vol.596 (C), p.8-17 [Periódico revisado por pares]Netherlands: Elsevier B.VTexto completo disponível |
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Material Type: Artigo
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Microstructural evolution of Au/TiO2 nanocomposite films: The influence of Au concentration and thermal annealingBorges, J. ; Kubart, T. ; Kumar, S. ; Leifer, K. ; Rodrigues, M.S. ; Duarte, N. ; Martins, B. ; Dias, J.P. ; Cavaleiro, A. ; Vaz, F.Thin solid films, 2015-04, Vol.580, p.77-88 [Periódico revisado por pares]Elsevier B.VTexto completo disponível |
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Material Type: Artigo
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Thermal stability, mechanical and corrosion behaviour of niobium-based coatings in the ternary system Nb–O–NFenker, M. ; Kappl, H. ; Carvalho, P. ; Vaz, F.Thin solid films, 2011-02, Vol.519 (8), p.2457-2463 [Periódico revisado por pares]Amsterdam: Elsevier B.VTexto completo disponível |
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Material Type: Artigo
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Growth and size distribution of Au nanoparticles in annealed Au/TiO2 thin filmsReymond-Laruinaz, S. ; Saviot, L. ; Potin, V. ; Lopes, C. ; Vaz, F. ; Marco de Lucas, M.C.Thin solid films, 2014-02, Vol.553, p.138-143 [Periódico revisado por pares]Amsterdam: Elsevier B.VTexto completo disponível |
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Material Type: Artigo
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Optical and microstructural properties of Au alloyed Al–O sputter deposited coatingsFigueiredo, N.M. ; Vaz, F. ; Cunha, L. ; Pei, Y.T. ; De Hosson, J.T.M. ; Cavaleiro, A.Thin solid films, 2016-01, Vol.598, p.65-71 [Periódico revisado por pares]Elsevier B.VTexto completo disponível |
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Material Type: Artigo
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Raman spectra and structural analysis in ZrOxNy thin filmsMOURA, C ; CARVALHO, P ; VAZ, F ; CUNHA, L ; ALVES, EThin solid films, 2006-11, Vol.515 (3), p.1132-1137 [Periódico revisado por pares]Lausanne: Elsevier ScienceTexto completo disponível |
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Material Type: Artigo
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Electrical properties of AlNxOy thin films prepared by reactive magnetron sputteringBorges, J. ; Martin, N. ; Barradas, N.P. ; Alves, E. ; Eyidi, D. ; Beaufort, M.F. ; Riviere, J.P. ; Vaz, F. ; Marques, L.Thin solid films, 2012-08, Vol.520 (21), p.6709-6717 [Periódico revisado por pares]Amsterdam: Elsevier B.VTexto completo disponível |
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Material Type: Artigo
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Structure and chemical bonds in reactively sputtered black Ti–C–N–O thin filmsChappé, J.M. ; Marco de Lucas, M.C. ; Cunha, L. ; Moura, C. ; Pierson, J.F. ; Imhoff, L. ; Heintz, O. ; Potin, V. ; Bourgeois, S. ; Vaz, F.Thin solid films, 2011-10, Vol.520 (1), p.144-151 [Periódico revisado por pares]Amsterdam: Elsevier B.VTexto completo disponível |
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Material Type: Artigo
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Property change in ZrNxOy thin films: effect of the oxygen fraction and bias voltageVaz, F. ; Carvalho, P. ; Cunha, L. ; Rebouta, L. ; Moura, C. ; Alves, E. ; Ramos, A.R. ; Cavaleiro, A. ; Goudeau, Ph ; Rivière, J.P.Thin solid films, 2004-12, Vol.469-470 (Complete), p.11-17 [Periódico revisado por pares]Texto completo disponível |
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Material Type: Artigo
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Property change in multifunctional TiCxOy thin films : Effect of the O/Ti ratioFERNANDES, A. C ; CARVALHO, P ; VAZ, F ; LANCEROS-MENDEZ, S ; MACHADO, A. V ; PARREIRA, N. M. G ; PIERSON, J. F ; MARTIN, NThin solid films, 2006-11, Vol.515 (3), p.866-871 [Periódico revisado por pares]Lausanne: Elsevier ScienceTexto completo disponível |