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Femtosecond Laser Micromachining: Photonic and Microfluidic Devices in Transparent Materials
Femtosecond Laser Micromachining: Photonic and Microfluidic Devices in Transparent Materials
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Femtosecond Laser Micromachining: Photonic and Microfluidic Devices in Transparent Materials

Osellame, Roberto ; Cerullo, Giulio ; Ramponi, Roberta Cerullo, Giulio ; Osellame, Roberto ; Ramponi, Roberta ; Cerullo, Giulio ; Ramponi, Roberta ; Osellame, Roberto

Berlin, Heidelberg: Springer Nature 2012

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Laser Processing of Engineering Materials - Principles, Procedure and Industrial Application
Laser Processing of Engineering Materials - Principles, Procedure and Industrial Application
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Laser Processing of Engineering Materials - Principles, Procedure and Industrial Application

Ion, John

San Diego: Elsevier 2005

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InAs/InGaAsSb/GaSb Nanowire Tunnel Field-Effect Transistors
InAs/InGaAsSb/GaSb Nanowire Tunnel Field-Effect Transistors
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InAs/InGaAsSb/GaSb Nanowire Tunnel Field-Effect Transistors

Memisevic, Elvedin ; Svensson, Johannes ; Lind, Erik ; Wernersson, Lars-Erik

IEEE transactions on electron devices, 2017-11, Vol.64 (11), p.4746-4751 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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Fused silica microchannel fabrication with smooth surface and high etching selectivity
Fused silica microchannel fabrication with smooth surface and high etching selectivity
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Fused silica microchannel fabrication with smooth surface and high etching selectivity

Morikawa, Kyojiro ; Chen, Po-yin ; Tran, Hai Linh ; Kazoe, Yutaka ; Chen, Chihchen ; Kitamori, Takehiko

Journal of micromechanics and microengineering, 2023-04, Vol.33 (4), p.47001 [Periódico revisado por pares]

IOP Publishing

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Capacitance and Mobility Evaluation for Normally-Off Fully-Vertical GaN FinFETs
Capacitance and Mobility Evaluation for Normally-Off Fully-Vertical GaN FinFETs
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Capacitance and Mobility Evaluation for Normally-Off Fully-Vertical GaN FinFETs

Gribisch, Philipp ; Carrascon, Rosalia Delgado ; Darakchieva, Vanya ; Lind, Erik

IEEE transactions on electron devices, 2023-08, Vol.70 (8), p.4101-4107 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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Tuning of Quasi-Vertical GaN FinFETs Fabricated on SiC Substrates
Tuning of Quasi-Vertical GaN FinFETs Fabricated on SiC Substrates
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Tuning of Quasi-Vertical GaN FinFETs Fabricated on SiC Substrates

Gribisch, Philipp ; Carrascon, Rosalia Delgado ; Darakchieva, Vanya ; Lind, Erik

IEEE transactions on electron devices, 2023-05, Vol.70 (5), p.1-7 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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III–V Nanowire Complementary Metal–Oxide Semiconductor Transistors Monolithically Integrated on Si
III–V Nanowire Complementary Metal–Oxide Semiconductor Transistors Monolithically Integrated on Si
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III–V Nanowire Complementary Metal–Oxide Semiconductor Transistors Monolithically Integrated on Si

Svensson, Johannes ; Dey, Anil W ; Jacobsson, Daniel ; Wernersson, Lars-Erik

Nano letters, 2015-12, Vol.15 (12), p.7898-7904 [Periódico revisado por pares]

United States: American Chemical Society

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8
Artificial Intelligence (AI) Applied in Civil Engineering
Artificial Intelligence (AI) Applied in Civil Engineering
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Artificial Intelligence (AI) Applied in Civil Engineering

Lagaros, Nikos D. ; Plevris, Vagelis

Applied sciences, 2022-08, Vol.12 (15), p.7595 [Periódico revisado por pares]

Basel: MDPI AG

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9
Roadmap on ferroelectric hafnia- and zirconia-based materials and devices
Roadmap on ferroelectric hafnia- and zirconia-based materials and devices
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Roadmap on ferroelectric hafnia- and zirconia-based materials and devices

Silva, José P. B. ; Alcala, Ruben ; Avci, Uygar E. ; Barrett, Nick ; Bégon-Lours, Laura ; Borg, Mattias ; Byun, Seungyong ; Chang, Sou-Chi ; Cheong, Sang-Wook ; Choe, Duk-Hyun ; Coignus, Jean ; Deshpande, Veeresh ; Dimoulas, Athanasios ; Dubourdieu, Catherine ; Fina, Ignasi ; Funakubo, Hiroshi ; Grenouillet, Laurent ; Gruverman, Alexei ; Heo, Jinseong ; Hoffmann, Michael ; Hsain, H. Alex ; Huang, Fei-Ting ; Hwang, Cheol Seong ; Íñiguez, Jorge ; Jones, Jacob L. ; Karpov, Ilya V. ; Kersch, Alfred ; Kwon, Taegyu ; Lancaster, Suzanne ; Lederer, Maximilian ; Lee, Younghwan ; Lomenzo, Patrick D. ; Martin, Lane W. ; Martin, Simon ; Migita, Shinji ; Mikolajick, Thomas ; Noheda, Beatriz ; Park, Min Hyuk ; Rabe, Karin M. ; Salahuddin, Sayeef ; Sánchez, Florencio ; Seidel, Konrad ; Shimizu, Takao ; Shiraishi, Takahisa ; Slesazeck, Stefan ; Toriumi, Akira ; Uchida, Hiroshi ; Vilquin, Bertrand ; Xu, Xianghan ; Ye, Kun Hee ; Schroeder, Uwe

APL materials, 2023-08, Vol.11 (8), p.089201-089201-70 [Periódico revisado por pares]

AIP Publishing

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Impact of Temperature-Induced Oxide Defects on HfxZr1−xO2 Ferroelectric Tunnel Junction Memristor Performance
Impact of Temperature-Induced Oxide Defects on HfxZr1−xO2 Ferroelectric Tunnel Junction Memristor Performance
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Impact of Temperature-Induced Oxide Defects on HfxZr1−xO2 Ferroelectric Tunnel Junction Memristor Performance

Athle, Robin ; Borg, Mattias

IEEE transactions on electron devices, 2023-03, Vol.70 (3), p.1412 [Periódico revisado por pares]

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