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1
Influence of Noise on Josephson Junctions Dynamics With a BCS Theory-Based Model
Influence of Noise on Josephson Junctions Dynamics With a BCS Theory-Based Model
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Influence of Noise on Josephson Junctions Dynamics With a BCS Theory-Based Model

Iwanikow, Lucas ; Febvre, Pascal

IEEE transactions on applied superconductivity, 2024-05, Vol.34 (3), p.1-5 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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2
An Adiabatic Superconductor Comparator With 46 nA Sensitivity
An Adiabatic Superconductor Comparator With 46 nA Sensitivity
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An Adiabatic Superconductor Comparator With 46 nA Sensitivity

Takeuchi, Naoki ; Yamae, Taiki ; Suzuki, Hideo ; Yoshikawa, Nobuyuki

IEEE transactions on applied superconductivity, 2021-08, Vol.31 (5), p.1-5 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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3
Experimental Analysis of the Bias Dependent Sensitivity of a Josephson Comparator
Experimental Analysis of the Bias Dependent Sensitivity of a Josephson Comparator
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Experimental Analysis of the Bias Dependent Sensitivity of a Josephson Comparator

Haddad, Taghrid ; Engert, Sonja ; Brandel, Oliver ; Kunert, Juergen ; Stolz, Ronny ; Toepfer, Hannes ; Ortlepp, Thomas

IEEE transactions on applied superconductivity, 2015-06, Vol.25 (3), p.1-4 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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4
Pseudo Sigmoid Function Generator for a Superconductive Neural Network
Pseudo Sigmoid Function Generator for a Superconductive Neural Network
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Pseudo Sigmoid Function Generator for a Superconductive Neural Network

Yamanashi, Y. ; Umeda, K. ; Yoshikawa, N.

IEEE transactions on applied superconductivity, 2013-06, Vol.23 (3), p.1701004-1701004 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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5
Optimization of Josephson Junction Comparators in Terms of Speed and Accuracy
Optimization of Josephson Junction Comparators in Terms of Speed and Accuracy
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Optimization of Josephson Junction Comparators in Terms of Speed and Accuracy

Ebert, B ; Ortlepp, T

IEEE transactions on applied superconductivity, 2011-06, Vol.21 (3), p.687-692 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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6
Balanced Comparator for RSFQ Qubit Readout
Balanced Comparator for RSFQ Qubit Readout
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Balanced Comparator for RSFQ Qubit Readout

Ohki, T. ; Savin, A. ; Hassel, J. ; Gronberg, L. ; Karminskaya, T. ; Kidiyarova-Shevchenko, A.

IEEE transactions on applied superconductivity, 2007-06, Vol.17 (2), p.128-131 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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7
A Non-Destructive Beam Monitoring System Based on an LTS-SQUID
A Non-Destructive Beam Monitoring System Based on an LTS-SQUID
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A Non-Destructive Beam Monitoring System Based on an LTS-SQUID

Geithner, R ; Neubert, R ; Vodel, W ; Schwickert, M ; Reeg, H ; von Hahn, R ; Seidel, P

IEEE transactions on applied superconductivity, 2011-06, Vol.21 (3), p.444-447 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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8
Application of LTS-SQUIDs in Nuclear Measurement Techniques
Application of LTS-SQUIDs in Nuclear Measurement Techniques
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Application of LTS-SQUIDs in Nuclear Measurement Techniques

Steppke, A. ; Geithner, R. ; Hechler, S. ; Nawrodt, R. ; Neubert, R. ; Vodel, W. ; Schwickert, M. ; Reeg, H. ; Seidel, P.

IEEE transactions on applied superconductivity, 2009-06, Vol.19 (3), p.768-771 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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9
Sigma-delta A/D converter in HTS ramp edge technology
Sigma-delta A/D converter in HTS ramp edge technology
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Sigma-delta A/D converter in HTS ramp edge technology

Sonnenberg, A.H. ; Oomen, I. ; Hilgenkamp, H. ; Gerritsma, G.J. ; Rogalla, H.

IEEE transactions on applied superconductivity, 2001-03, Vol.11 (1), p.200-204 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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10
Cryogenic current comparator for absolute measurements of the dark current of superconducting cavities for TESLA
Cryogenic current comparator for absolute measurements of the dark current of superconducting cavities for TESLA
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Cryogenic current comparator for absolute measurements of the dark current of superconducting cavities for TESLA

Vodel, W. ; Neubert, R. ; Nietzsche, S. ; Knaack, K. ; Wendt, M. ; Wittenburg, K. ; Peters, A.

IEEE transactions on applied superconductivity, 2003-06, Vol.13 (2), p.743-746 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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