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1
Pseudo Sigmoid Function Generator for a Superconductive Neural Network
Pseudo Sigmoid Function Generator for a Superconductive Neural Network
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Pseudo Sigmoid Function Generator for a Superconductive Neural Network

Yamanashi, Y. ; Umeda, K. ; Yoshikawa, N.

IEEE transactions on applied superconductivity, 2013-06, Vol.23 (3), p.1701004-1701004 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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2
Optimization of Josephson Junction Comparators in Terms of Speed and Accuracy
Optimization of Josephson Junction Comparators in Terms of Speed and Accuracy
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Optimization of Josephson Junction Comparators in Terms of Speed and Accuracy

Ebert, B ; Ortlepp, T

IEEE transactions on applied superconductivity, 2011-06, Vol.21 (3), p.687-692 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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3
A flash analog to digital converter on stainless steel foil substrate
A flash analog to digital converter on stainless steel foil substrate
Material Type:
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A flash analog to digital converter on stainless steel foil substrate

Jamshidi-Roudbari, Abbas ; Kuo, Po-Chin ; Hatalis, Miltiadis K.

Solid-state electronics, 2010-04, Vol.54 (4), p.410-416 [Periódico revisado por pares]

Kidlington: Elsevier Ltd

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4
A Non-Destructive Beam Monitoring System Based on an LTS-SQUID
A Non-Destructive Beam Monitoring System Based on an LTS-SQUID
Material Type:
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A Non-Destructive Beam Monitoring System Based on an LTS-SQUID

Geithner, R ; Neubert, R ; Vodel, W ; Schwickert, M ; Reeg, H ; von Hahn, R ; Seidel, P

IEEE transactions on applied superconductivity, 2011-06, Vol.21 (3), p.444-447 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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5
Application of LTS-SQUIDs in Nuclear Measurement Techniques
Application of LTS-SQUIDs in Nuclear Measurement Techniques
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Application of LTS-SQUIDs in Nuclear Measurement Techniques

Steppke, A. ; Geithner, R. ; Hechler, S. ; Nawrodt, R. ; Neubert, R. ; Vodel, W. ; Schwickert, M. ; Reeg, H. ; Seidel, P.

IEEE transactions on applied superconductivity, 2009-06, Vol.19 (3), p.768-771 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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6
Cryogenic current comparator for absolute measurements of the dark current of superconducting cavities for TESLA
Cryogenic current comparator for absolute measurements of the dark current of superconducting cavities for TESLA
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Cryogenic current comparator for absolute measurements of the dark current of superconducting cavities for TESLA

Vodel, W. ; Neubert, R. ; Nietzsche, S. ; Knaack, K. ; Wendt, M. ; Wittenburg, K. ; Peters, A.

IEEE transactions on applied superconductivity, 2003-06, Vol.13 (2), p.743-746 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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7
Error correction circuits of comparators based on quasi-one junction SQUID(s) for high temperature superconductor
Error correction circuits of comparators based on quasi-one junction SQUID(s) for high temperature superconductor
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Error correction circuits of comparators based on quasi-one junction SQUID(s) for high temperature superconductor

Sugiyama, H. ; Wakana, H. ; Adachi, S. ; Horibe, M. ; Ishimaru, Y. ; Tarutani, Y. ; Tanabe, K.

IEEE transactions on applied superconductivity, 2003-06, Vol.13 (2), p.405-408 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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8
Sensitivity of the balanced Josephson-junction comparator
Sensitivity of the balanced Josephson-junction comparator
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Sensitivity of the balanced Josephson-junction comparator

Filippov, T.V. ; Kornev, V.K.

IEEE Transactions on Magnetics (Institute of Electrical and Electronics Engineers); (United States), 1991-03, Vol.27 (2), p.2452-2455

New York, NY: IEEE

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9
A dual zero‐crossing detection circuit for fractional fringe interferometry
A dual zero‐crossing detection circuit for fractional fringe interferometry
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A dual zero‐crossing detection circuit for fractional fringe interferometry

Fehr, T. W. ; Pierce, W. F.

Review of scientific instruments, 1992-11, Vol.63 (11), p.5475-5476 [Periódico revisado por pares]

WOODBURY: Amer Inst Physics

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10
Cryogenic current comparator with increased resolution
Cryogenic current comparator with increased resolution
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Cryogenic current comparator with increased resolution

van der Wel, W. ; Mooij, J. E. ; Harmans, C. J. P. M.

Rev. Sci. Instrum.; (United States), 1988-04, Vol.59 (4), p.624-626 [Periódico revisado por pares]

Woodbury, NY: American Institute of Physics

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