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1	Material Type: Artigo		Cathodoluminescence of Ge- Clusters in Silica Layers Salh, R ; Fitting, L ; Fitting, H-J Microscopy and microanalysis, 2006-08, Vol.12 (S02), p.1532-1533 [Periódico revisado por pares] New York, USA: Cambridge University Press Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
2	Material Type: Artigo		Does Respiratory Infection Due to Chlamydia pneumoniae Still Exist? Senn, Laurence ; Jaton, Katia ; Fitting, Jean-William ; Greub, Gilbert Clinical infectious diseases, 2011-10, Vol.53 (8), p.847-848 [Periódico revisado por pares] United States: Oxford University Press Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
3	Material Type: Artigo		Low Energy Electron Scattering and Electrical Charging in Non-conductive Specimen Fitting, H.-J. Microscopy and microanalysis, 2003-09, Vol.9 (S03), p.102-103 [Periódico revisado por pares] New York, USA: Cambridge University Press Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
4	Material Type: Artigo		Monte Carlo Modeling of Electron Scattering in Nonconductive Specimens Fitting, H.-J. ; Schreiber, E. ; Glavatskikh, I.A. Microscopy and microanalysis, 2004-12, Vol.10 (6), p.764-770 [Periódico revisado por pares] New York, USA: Cambridge University Press Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
5	Material Type: Artigo		EFTEM, EELS, and Cathodoluminescence in Si-implanted SiO2 Layers Fitting, H-J ; Kourkoutis, L Fitting ; Salh, R ; Schmidt, B Microscopy and microanalysis, 2009-07, Vol.15 (S2), p.1104-1105 [Periódico revisado por pares] New York, USA: Cambridge University Press Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
6	Material Type: Artigo		SEM Contrast of Semi-insulating Compound Materials Fitting, H-J ; Kovacs, JZ Microscopy and microanalysis, 2009-07, Vol.15 (S2), p.1106-1107 [Periódico revisado por pares] New York, USA: Cambridge University Press Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
7	Material Type: Artigo		Electron Beam Induced Defects in SiO2 Fitting, H.-J. ; Barfels, T. ; von Czarnowski, A. ; Ziems, T. Microscopy and microanalysis, 2003-09, Vol.9 (S03), p.360-361 [Periódico revisado por pares] New York, USA: Cambridge University Press Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
8	Material Type: Artigo		Cathodoluminescence of Defects, Interstitial Molecules, and Clusters in Silica Fitting, H-J ; Salh, R ; Kourkoutis, L Fitting Microscopy and microanalysis, 2007-08, Vol.13 (S02), p.1378-1379 [Periódico revisado por pares] New York, USA: Cambridge University Press Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
9	Material Type: Artigo		Cathodoluminescence of Ion-Implanted Silica Layers Salh, R ; Fitting, H-J ; Kourkoutis, L Fitting ; Schmidt, B Microscopy and microanalysis, 2007-09, Vol.13 (S03), p.328-329 [Periódico revisado por pares] New York, USA: Cambridge University Press Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
10	Material Type: Artigo		Selfconsistent Electron Beam Charging of Non-Conductive Specimen in SEM and ESEM Fitting, H-J ; Touzin, M Microscopy and microanalysis, 2006-08, Vol.12 (S02), p.1450-1451 [Periódico revisado por pares] New York, USA: Cambridge University Press Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por

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