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Refinado por: Nome da Publicação: Ieee Transactions On Electron Devices remover
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Etoh, T.G. ; Poggemann, D. ; Kreider, G. ; Mutoh, H. ; Theuwissen, A.J.P. ; Ruckelshausen, A. ; Kondo, Y. ; Maruno, H. ; Takubo, K. ; Soya, H. ; Takehara, K. ; Okinaka, T. ; Takano, Y.

IEEE transactions on electron devices, 2003-01, Vol.50 (1), p.144-151 [Periódico revisado por pares]

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Etoh, T.G. ; Poggemann, D. ; Kreider, G. ; Mutoh, H. ; Theuwissen, A.J.P. ; Ruckelshausen, A. ; Kondo, Y. ; Maruno, H. ; Takubo, K. ; Soya, H. ; Takehara, K. ; Okinaka, T. ; Takano, Y.

IEEE transactions on electron devices, 2003-01, Vol.50 (1), p.144-151 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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  • Realização: ABCD-USP USP   Logos de Redes Sociais: Freepik

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