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1
Optimal Pulse Processing, Pile-Up Decomposition, and Applications of Silicon Drift Detectors at LCLS
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Artigo
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Optimal Pulse Processing, Pile-Up Decomposition, and Applications of Silicon Drift Detectors at LCLS

Blaj, G. ; Kenney, C. J. ; Dragone, A. ; Carini, G. ; Herrmann, S. ; Hart, P. ; Tomada, A. ; Koglin, J. ; Haller, G. ; Boutet, S. ; Messerschmidt, M. ; Williams, G. ; Chollet, M. ; Dakovski, G. ; Nelson, S. ; Pines, J. ; Song, S. ; Thayer, J.

IEEE transactions on nuclear science, 2017-11, Vol.64 (11), p.2854-2868 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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2
Performance characteristics of Frisch-ring CdZnTe detectors
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Performance characteristics of Frisch-ring CdZnTe detectors

Bolotnikov, A.E. ; Camarda, G.C. ; Carini, G.A. ; Fiederle, M. ; Li, L. ; McGregor, D.S. ; McNeil, W. ; Wright, G.W. ; James, R.B.

IEEE transactions on nuclear science, 2006-04, Vol.53 (2), p.607-614 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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3
Characterization of Traveling Heater Method (THM) Grown Cd0.9Zn0.1Te Crystals
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Artigo
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Characterization of Traveling Heater Method (THM) Grown Cd0.9Zn0.1Te Crystals

Chen, H ; Awadalla, S.A ; Mackenzie, J ; Redden, R ; Bindley, G ; Bolotnikov, A.E ; Camarda, G.S ; Carini, G ; James, R.B

IEEE transactions on nuclear science, 2007-08, Vol.54 (4), p.811 [Periódico revisado por pares]

New York: The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. (IEEE)

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4
Performance-Limiting Defects in CdZnTe Detectors
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Artigo
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Performance-Limiting Defects in CdZnTe Detectors

Bolotnikov, A.E. ; Camarda, G.S. ; Carini, G.A. ; Cui, Y. ; Kohman, K.T. ; Li, L. ; Salomon, M.B. ; James, R.B.

IEEE transactions on nuclear science, 2007-08, Vol.54 (4), p.821-827 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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5
High-energy X-ray diffraction and topography investigation of CdZnTe
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Artigo
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High-energy X-ray diffraction and topography investigation of CdZnTe

CARINI, G. A ; CAMARDA, G. S ; ZHONG, Z ; SIDDONS, D. P ; BOLOTNIKOV, A. E ; WRIGHT, G. W ; BARBER, B ; ARNONE, C ; JAMES, R. B

Europhysics letters, 2005-06, Vol.34 (6), p.804-810 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: Institute of Electrical and Electronics Engineers

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6
eLine10k: A High Dynamic Range Front-End ASIC for LCLS Detectors
Material Type:
Artigo
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eLine10k: A High Dynamic Range Front-End ASIC for LCLS Detectors

Dragone, A. ; Caragiulo, P. ; Carini, G. A. ; Herbst, R. ; Pratte, J. F. ; O'Connor, P. ; Rehak, P. ; Siddons, D. P. ; Haller, G.

IEEE transactions on nuclear science, 2014-04, Vol.61 (2), p.992-1000 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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7
Characterization of Low-Defect Cd0.9Zn0.1Te and CdTe Crystals for High-Performance Frisch Collar Detectors
Material Type:
Artigo
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Characterization of Low-Defect Cd0.9Zn0.1Te and CdTe Crystals for High-Performance Frisch Collar Detectors

Mandal,K. ; Kang, S. ; Choi, M. ; Kargar, A. ; Harrison, M. ; McGregor, D. ; Bolotnikov, A. ; Carini, G. ; Camarda, G. ; James, R.

IEEE transactions on nuclear science, 2007-08, Vol.54 [Periódico revisado por pares]

United States

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8
Development of Thin-Junction Detector
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Artigo
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Development of Thin-Junction Detector

Chen, W. ; Carini, G. ; Keister, J. ; Li, Z. ; Rehak, P.

IEEE transactions on nuclear science, 2007-10, Vol.54 (5), p.1842-1848 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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9
Material quality characterization of CdZnTe substrates for HgCdTe epitaxy
Material Type:
Artigo
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Material quality characterization of CdZnTe substrates for HgCdTe epitaxy

CARINI, G. A ; ARNONE, C ; ZHAO, J ; ZHONG, Z ; JAMES, R. B ; BOLOTNIKOV, A. E ; CAMARDA, G. S ; DE WAMES, R ; DINAN, J. H ; MARKUNAS, J. K ; RAGHOTHAMACHAR, B ; SIVANANTHAN, S ; SMITH, R

Journal of electronic materials, 2006-06, Vol.35 (6), p.1495-1502 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: Institute of Electrical and Electronics Engineers

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10
ePix: A class of front-end ASICs for second generation LCLS integrating hybrid pixel detectors
Material Type:
Ata de Congresso
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ePix: A class of front-end ASICs for second generation LCLS integrating hybrid pixel detectors

Dragone, A. ; Caragiulo, P. ; Markovic, B. ; Herbst, R. ; Nishimura, K. ; Reese, B. ; Herrmann, S. ; Hart, P. ; Blaj, G. ; Segal, J. ; Tomada, A. ; Hasi, J. ; Carini, G. ; Kenney, C. ; Haller, G.

2013 IEEE Nuclear Science Symposium and Medical Imaging Conference (2013 NSS/MIC), 2013, p.1-5

IEEE

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