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Optical and thermal investigation of GeO2–PbO thin films doped with Au and Ag nanoparticles
Optical and thermal investigation of GeO2–PbO thin films doped with Au and Ag nanoparticles
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Optical and thermal investigation of GeO2–PbO thin films doped with Au and Ag nanoparticles

Carvalho, E.A. ; Carmo, A.P. ; Bell, M.J.V. ; Anjos, V. ; Kassab, L.R.P. ; da Silva, D.M.

Thin solid films, 2012-01, Vol.520 (7), p.2667-2671 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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2
Atomic structure of the Au(110)c(2×2)–Sb system: A combined LEED and DFT study
Atomic structure of the Au(110)c(2×2)–Sb system: A combined LEED and DFT study
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Atomic structure of the Au(110)c(2×2)–Sb system: A combined LEED and DFT study

dos Reis, D.D. ; Negreiros, F.R. ; de Carvalho, V.E. ; Soares, E.A. ; de Castilho, C.M.C.

Surface science, 2013-03, Vol.609, p.100-105 [Periódico revisado por pares]

Kidlington: Elsevier B.V

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3
Atomic geometry determination of FeO(0 0 1) grown on Ag(0 0 1) by low energy electron diffraction
Atomic geometry determination of FeO(0 0 1) grown on Ag(0 0 1) by low energy electron diffraction
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Atomic geometry determination of FeO(0 0 1) grown on Ag(0 0 1) by low energy electron diffraction

Lopes, E.L. ; Abreu, G.J.P. ; Paniago, R. ; Soares, E.A. ; de Carvalho, V.E. ; Pfannes, H.-D.

Surface science, 2007-03, Vol.601 (5), p.1239-1245 [Periódico revisado por pares]

Lausanne: Elsevier B.V

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4
Geometry of the Au(1 1 0)-(1 × 2) missing-row clean surface: A New LEED and DFT study
Geometry of the Au(1 1 0)-(1 × 2) missing-row clean surface: A New LEED and DFT study
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Geometry of the Au(1 1 0)-(1 × 2) missing-row clean surface: A New LEED and DFT study

Reis, D.D. dos ; Negreiros, F.R. ; de Carvalho, V.E. ; Soares, E.A.

Surface science, 2010-03, Vol.604 (5), p.568-573 [Periódico revisado por pares]

Kidlington: Elsevier B.V

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5
Scaling behavior of genetic algorithms applied to surface structural determination by LEED
Scaling behavior of genetic algorithms applied to surface structural determination by LEED
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Scaling behavior of genetic algorithms applied to surface structural determination by LEED

Viana, M.L. ; Simões e Silva, W. ; Soares, E.A. ; de Carvalho, V.E. ; de Castilho, C.M.C. ; Van Hove, M.A.

Surface science, 2008-11, Vol.602 (21), p.3395-3402 [Periódico revisado por pares]

Kidlington: Elsevier B.V

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6
Spectroscopic characteristics of doped nanoporous aluminum oxide
Spectroscopic characteristics of doped nanoporous aluminum oxide
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Spectroscopic characteristics of doped nanoporous aluminum oxide

de Azevedo, W.M. ; de Carvalho, D.D. ; Khoury, H.J. ; de Vasconcelos, E.A. ; da Silva, E.F.

Materials science & engineering. B, Solid-state materials for advanced technology, 2004-09, Vol.112 (2), p.171-174 [Periódico revisado por pares]

Elsevier B.V

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7
Photoluminescence characteristics of rare earth-doped nanoporous aluminum oxide
Photoluminescence characteristics of rare earth-doped nanoporous aluminum oxide
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Photoluminescence characteristics of rare earth-doped nanoporous aluminum oxide

de Azevedo, W.M ; de Carvalho, D.D ; de Vasconcelos, E.A ; da Silva, E.F

Applied surface science, 2004-07, Vol.234 (1), p.457-461 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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8
Structure determination of Ag(111) by low-energy electron diffraction
Structure determination of Ag(111) by low-energy electron diffraction
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Structure determination of Ag(111) by low-energy electron diffraction

Soares, E.A ; Nascimento, V.B ; de Carvalho, V.E ; de Castilho, C.M.C ; de Carvalho, A.V ; Toomes, R ; Woodruff, D.P

Surface science, 1999-01, Vol.419 (2), p.89-96 [Periódico revisado por pares]

Lausanne: Elsevier B.V

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9
Structural study of the Ag(1 1 0) c(2 × 2)–Sb phase by low energy electron diffraction
Structural study of the Ag(1 1 0) c(2 × 2)–Sb phase by low energy electron diffraction
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Structural study of the Ag(1 1 0) c(2 × 2)–Sb phase by low energy electron diffraction

Nascimento, V.B. ; Paniago, R. ; de Siervo, A. ; de Castilho, C.M.C. ; Landers, R. ; Soares, E.A. ; de Carvalho, V.E.

Surface science, 2004-11, Vol.572 (2), p.337-346 [Periódico revisado por pares]

Lausanne: Elsevier B.V

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10
Residual carbon and carrier concentration in InGaP layers grown by chemical beam epitaxy
Residual carbon and carrier concentration in InGaP layers grown by chemical beam epitaxy
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Residual carbon and carrier concentration in InGaP layers grown by chemical beam epitaxy

Bettini, J. ; de Carvalho, M.M.G. ; Pudenzi, M.A.A. ; Laureto, E. ; Meneses, E.A.

Thin solid films, 2003-04, Vol.429 (1), p.91-95 [Periódico revisado por pares]

Lausanne: Elsevier B.V

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