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A Statistical Prediction Model Based on Sparse Representations for Single Image Super-Resolution
A Statistical Prediction Model Based on Sparse Representations for Single Image Super-Resolution
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A Statistical Prediction Model Based on Sparse Representations for Single Image Super-Resolution

Peleg, Tomer ; Elad, Michael

IEEE transactions on image processing, 2014-06, Vol.23 (6), p.2569-2582 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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2
Exponential Stability on Stochastic Neural Networks With Discrete Interval and Distributed Delays
Exponential Stability on Stochastic Neural Networks With Discrete Interval and Distributed Delays
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Exponential Stability on Stochastic Neural Networks With Discrete Interval and Distributed Delays

Yang, Rongni ; Zhang, Zexu ; Shi, Peng

IEEE transactions on neural networks, 2010-01, Vol.21 (1), p.169-175

New York, NY: IEEE

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3
A Self-Organizing Approach to Background Subtraction for Visual Surveillance Applications
A Self-Organizing Approach to Background Subtraction for Visual Surveillance Applications
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

A Self-Organizing Approach to Background Subtraction for Visual Surveillance Applications

Maddalena, L. ; Petrosino, A.

IEEE transactions on image processing, 2008-07, Vol.17 (7), p.1168-1177 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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4
Coupled Dictionary Training for Image Super-Resolution
Coupled Dictionary Training for Image Super-Resolution
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Coupled Dictionary Training for Image Super-Resolution

Jianchao Yang ; Zhaowen Wang ; Zhe Lin ; Cohen, S. ; Huang, T.

IEEE transactions on image processing, 2012-08, Vol.21 (8), p.3467-3478 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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5
Comparative study on classifying human activities with miniature inertial and magnetic sensors
Comparative study on classifying human activities with miniature inertial and magnetic sensors
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Comparative study on classifying human activities with miniature inertial and magnetic sensors

Altun, Kerem ; Barshan, Billur ; Tunçel, Orkun

Pattern recognition, 2010-10, Vol.43 (10), p.3605-3620 [Periódico revisado por pares]

Kidlington: Elsevier Ltd

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6
A novel hybrid CNN–SVM classifier for recognizing handwritten digits
A novel hybrid CNN–SVM classifier for recognizing handwritten digits
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A novel hybrid CNN–SVM classifier for recognizing handwritten digits

Niu, Xiao-Xiao ; Suen, Ching Y.

Pattern recognition, 2012-04, Vol.45 (4), p.1318-1325 [Periódico revisado por pares]

Kidlington: Elsevier Ltd

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7
Neural network language models for off-line handwriting recognition
Neural network language models for off-line handwriting recognition
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Neural network language models for off-line handwriting recognition

Zamora-Martínez, F. ; Frinken, V. ; España-Boquera, S. ; Castro-Bleda, M.J. ; Fischer, A. ; Bunke, H.

Pattern recognition, 2014-04, Vol.47 (4), p.1642-1652 [Periódico revisado por pares]

Kidlington: Elsevier Ltd

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8
Framewise phoneme classification with bidirectional LSTM and other neural network architectures
Framewise phoneme classification with bidirectional LSTM and other neural network architectures
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Framewise phoneme classification with bidirectional LSTM and other neural network architectures

Graves, Alex ; Schmidhuber, Jürgen

Neural networks, 2005-07, Vol.18 (5), p.602-610 [Periódico revisado por pares]

Oxford: Elsevier Ltd

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9
The C-loss function for pattern classification
The C-loss function for pattern classification
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The C-loss function for pattern classification

Singh, Abhishek ; Pokharel, Rosha ; Principe, Jose

Pattern recognition, 2014-01, Vol.47 (1), p.441-453 [Periódico revisado por pares]

Kidlington: Elsevier Ltd

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10
Fast Tomographic Reconstruction From Limited Data Using Artificial Neural Networks
Fast Tomographic Reconstruction From Limited Data Using Artificial Neural Networks
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Fast Tomographic Reconstruction From Limited Data Using Artificial Neural Networks

Pelt, Daniel Maria ; Batenburg, Kees Joost

IEEE transactions on image processing, 2013-12, Vol.22 (12), p.5238-5251 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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